光矢量分析系統(tǒng)測試光纖在不同波長下的彎曲損耗

  ICC訊 在實(shí)際使用過程中光纖不可避免地會被彎曲，當(dāng)彎曲半徑較小時，光的傳輸途徑會發(fā)生相應(yīng)的改變，在彎曲處有一部分光會從基模中泄露，滲透到包層或穿過包層輻射模向外傳輸而引起光功率減小，從而造成彎曲損耗。借助于光矢量分析系統(tǒng)(OCI-V)能夠測試光器件在不同波長下的損耗特點(diǎn)，對光纖進(jìn)行不同彎曲狀態(tài)下的損耗測試。

光矢量分析儀(OCI-V)

  測試光纖彎曲后損耗的實(shí)驗(yàn)裝置如圖1所示，將被測光纖纏繞在不同直徑的橡膠棒上，每種直徑的橡膠棒上纏繞不同圈數(shù)的光纖。

圖1. 不同波長下?lián)p耗實(shí)驗(yàn)裝置圖

  采樣OCI-V透射模式，測試光纖在沒有彎曲狀態(tài)下的初始損耗，測試結(jié)果如圖2所示，可以看出待測光纖在沒有彎曲時的平均損耗約為0.65dB，且在不同波長下的損耗基本一致。

圖2. 無彎曲時在不同波長下的初始損耗

  表1. 不同直徑圈數(shù)波長下的損耗情況

  表1為光纖彎曲后在不同波長下的損耗測試結(jié)果，從結(jié)果中可以看出纏繞直徑越小，纏繞圈數(shù)越多，對待測光纖帶來的損耗越大，在相同纏繞直徑和纏繞圈數(shù)時，損耗會隨著波長的加長而增大。

(a)纏繞1圈

(b)纏繞2圈

(c)纏繞5圈

圖3. 彎曲直徑10mm時在不同波長下的損耗

  使用OCI-V可以測試出光纖彎曲時在不同波長下的損耗情況，損耗會隨著彎曲直徑的減小或纏繞圈數(shù)的增加而增大，從測試結(jié)果可以看出，在同一種彎曲狀態(tài)下，隨著波長的加長損耗增大。通過OCI-V可以快速測試出光鏈路在不同波長下的損耗特性，為設(shè)計制造光鏈路提供可靠的數(shù)據(jù)支撐。

  昊衡科技

  Megasense

  一家集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售于一體的高科技公司，專業(yè)從事工業(yè)級自校準(zhǔn)光學(xué)測量與傳感技術(shù)開發(fā)，也是一家實(shí)現(xiàn)OFDR技術(shù)商用化的公司。目前，昊衡科技已推出多款高精度高分辨率產(chǎn)品，主要應(yīng)用于光學(xué)鏈路診斷、光學(xué)多參數(shù)測量、高精度分布式光纖溫度和應(yīng)變傳感測試。已與全球多個國家和地區(qū)企業(yè)建立良好的合作關(guān)系，并取得諸多成果。電話：027-87002165官網(wǎng)：http://www.mega-sense.com/公眾號：“昊衡科技”或“大話光纖傳感”