OLI白光干涉儀原理介紹

  ICC訊 白光干涉儀又名光纖微裂紋檢測儀，能精確定位整個掃描范圍內(nèi)的回波損耗，實(shí)現(xiàn)微米級光纖鏈路或光學(xué)器件的微損傷檢測。

圖1. OLI白光干涉儀

  OLI原理如圖2所示，光源發(fā)出寬帶連續(xù)光被耦合器分為兩路，其中一束作為參考光，另一束作為探測信號光發(fā)射到待測光纖中。

圖2. 白光干涉儀原理

      探測光在光纖中向前傳播時會不斷產(chǎn)生回波信號，這些回波信號光與參考光經(jīng)過反射鏡后反射在耦合器發(fā)生拍頻干涉，并被光電探測器檢測。電機(jī)控制反射鏡Z移動進(jìn)而改變參考光光程。

  依照光干涉理論，要發(fā)生干涉現(xiàn)象，其光程差需在相干長度范圍內(nèi)，而寬譜光的相干長度非常短，當(dāng)反射鏡移動時，從DUT返回的回波信號與反射鏡相等距離的反射信號發(fā)生拍頻。

圖3. OLI距離-反射率曲線

  通過對最終的拍頻信號處理，DUT鏈路上的每點(diǎn)反射回來信號的強(qiáng)度可以映射為該點(diǎn)的反射率(即曲線縱坐標(biāo))，DUT的實(shí)際干涉位置對應(yīng)反射鏡Z移動的相應(yīng)距離(即曲線橫坐標(biāo))，從而形成了OLI距離-反射率曲線。

  應(yīng)用

  1、光纖微裂紋檢測

  2、硅光芯片、PLC波導(dǎo)瑕疵損耗檢測

  3、FA光纖陣列鏈路性能檢測

  4、光器件、光模塊內(nèi)部耦合點(diǎn)、連接點(diǎn)性能檢測

  測量原理

  1、光源：白光

  2、兩路光：參考光、信號光

  3、兩路光在光程相同的地方發(fā)生干涉

  昊衡科技

  Megasense

  一家集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售于一體的高科技公司，專業(yè)從事工業(yè)級自校準(zhǔn)光學(xué)測量與傳感技術(shù)開發(fā)，也是國內(nèi)唯一一家實(shí)現(xiàn)OFDR技術(shù)商用化的公司。目前，昊衡科技已推出多款高精度高分辨率產(chǎn)品，主要應(yīng)用于光學(xué)鏈路診斷、光學(xué)多參數(shù)測量、高精度分布式光纖溫度和應(yīng)變傳感測試。已與全球多個國家和地區(qū)企業(yè)建立良好的合作關(guān)系，并取得諸多成果。電話：027-87002165官網(wǎng)：http://www.mega-sense.com/公眾號：“昊衡科技”或“大話光纖傳感”