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華為公開(kāi)“光計(jì)算芯片”專利

摘要:華為技術(shù)有限公司公開(kāi)“光計(jì)算芯片、系統(tǒng)及數(shù)據(jù)處理技術(shù)”發(fā)明專利,本專利涉及一種光計(jì)算芯片、系統(tǒng)及數(shù)據(jù)處理技術(shù)。所述光計(jì)算芯片包括光源陣列、第一凹面鏡和調(diào)制器陣列。所述光源陣列位于所述第一凹面鏡的物面焦平面上。

  ICC訊 2月7日消息,企查查APP顯示,2月2日,華為技術(shù)有限公司公開(kāi)“光計(jì)算芯片、系統(tǒng)及數(shù)據(jù)處理技術(shù)”發(fā)明專利,公開(kāi)號(hào)為CN112306145A。

  專利摘要顯示,本專利涉及一種光計(jì)算芯片、系統(tǒng)及數(shù)據(jù)處理技術(shù)。所述光計(jì)算芯片包括光源陣列、第一凹面鏡和調(diào)制器陣列。所述光源陣列位于所述第一凹面鏡的物面焦平面上。所述調(diào)制器陣列位于所述第一凹面鏡的像面焦平面上。所述光源陣列用于根據(jù)第一數(shù)據(jù)生成第一光信號(hào)。所述第一凹面鏡用于根據(jù)所述第一光信號(hào)輸出第一反射光信號(hào)。所述調(diào)制器陣列用于接收所述第一反射光信號(hào),根據(jù)所述第一反射光信號(hào)獲得第一頻譜面分布數(shù)據(jù),并將所述第一頻譜面分布數(shù)據(jù)調(diào)制在所述調(diào)制器陣列上。

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