產(chǎn)品升級:昊衡科技光纖微裂紋檢測儀長度升級至1m

  ICC訊 以白光干涉為原理的光纖微裂紋檢測儀，最初受限于延時(shí)纖的測量長度，只能測試6cm,使得測試場景非常局限，為解決測量長度問題，昊衡科技歷時(shí)3年，推出測量長度1m的國產(chǎn)光纖微裂紋檢測儀。

  光纖微裂紋檢測儀測量長度升級到1m,是希望能更大程度滿足客戶測試所需，解決客戶不斷匹配跳線，測試繁瑣問題，1m的測試長度能更大限度包容待測樣品，為測試器件留有更大空間，更便捷客戶使用。

  設(shè)備測試性能和穩(wěn)定性也有了質(zhì)的飛躍，在升級長度過程中，不斷迭代已有的光路和模塊，長時(shí)間的實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證，以最優(yōu)化的結(jié)構(gòu)，提升設(shè)備測試效果。

  以下是光纖微裂紋檢測儀測量保偏光鏈路，該器件長0.955m,末端是保偏光纖，OLI能測試出由保偏光纖雙折射引起的2個(gè)不同時(shí)延峰值。OLI以1μm的采樣分辨率能清晰判別出鏈路中光模塊的好壞以及光纖裂紋檢測。

圖1.保偏光鏈路測試圖

  昊衡推出的光纖微裂紋檢測儀叫做低成本光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)(OLI)，該系統(tǒng)通過讀取最終干涉曲線的峰值大小，精確測量整個(gè)掃描范圍內(nèi)的回波損耗， 進(jìn)而判斷此測量范圍內(nèi)鏈路的性能，其事件點(diǎn)定位精度高達(dá)幾十微米，最低可探測到-80dB光學(xué)弱信號， 廣泛用于光纖或光器件損傷檢測以及產(chǎn)品批量出貨合格判定。

圖2.低成本光學(xué)鏈路診斷儀

  OLI 低成本光學(xué)鏈路診斷儀產(chǎn)品應(yīng)用

  01 光纖微裂紋檢測

  02 硅光芯片、PLC波導(dǎo)瑕疵損耗檢測

  03 FA光纖陣列鏈路性能檢測

  04 光器件、光模塊內(nèi)部耦合點(diǎn)、連接點(diǎn)性能檢測

  昊衡科技

  Megasense

  一家集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售于一體的高科技公司，專業(yè)從事工業(yè)級自校準(zhǔn)光學(xué)測量與傳感技術(shù)開發(fā)，也是一家實(shí)現(xiàn)OFDR技術(shù)商用化的公司。目前，昊衡科技已推出多款高精度高分辨率產(chǎn)品，主要應(yīng)用于光學(xué)鏈路診斷、光學(xué)多參數(shù)測量、高精度分布式光纖溫度和應(yīng)變傳感測試。已與全球多個(gè)國家和地區(qū)企業(yè)建立良好的合作關(guān)系，并取得諸多成果。電話：027-87002165官網(wǎng)：http://www.mega-sense.com/公眾號：“昊衡科技”或“大話光纖傳感”