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武漢普賽斯電子邀您共聚2021深圳光博會(huì)

摘要:武漢普賽斯電子是“武漢·中國光谷”一家高科技企業(yè),專業(yè)研究和開發(fā)光通信器件產(chǎn)線監(jiān)測(cè)和測(cè)試方案,以及自動(dòng)化生產(chǎn)設(shè)備。普賽斯參展CIOE2021,展位號(hào):4號(hào)館 4A78,歡迎蒞臨參觀。

  公司簡(jiǎn)介

  武漢普賽斯電子是“武漢·中國光谷”一家高科技企業(yè),專業(yè)研究和開發(fā)光通信器件產(chǎn)線監(jiān)測(cè)和測(cè)試方案,以及自動(dòng)化生產(chǎn)設(shè)備。

  產(chǎn)品覆蓋BAR條器件、TO器件、OSA器件、光收發(fā)模塊、BOB等生產(chǎn)線,旨在為光電器件生產(chǎn)客戶提供完美的服務(wù)。

  聯(lián)系方式:

  TEL.:027-89908766

  E-mail:pss@whprecise.com

  Add.:中國 湖北省 武漢市東湖開發(fā)區(qū)光谷大道308號(hào)光谷動(dòng)力綠色環(huán)保產(chǎn)業(yè)園9棟4樓

  產(chǎn)品看點(diǎn)

  •   芯片測(cè)試類


  BAR條自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

  Chip自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

  模塊測(cè)試類

  400G高速誤碼儀

  光模塊集成式老化系統(tǒng)

  •   器件測(cè)試類

  TO三溫測(cè)試系統(tǒng)

  TO焦距測(cè)試系統(tǒng)

  探測(cè)器組件測(cè)試分揀一體機(jī)

  高溫盤測(cè)系統(tǒng)

  高精度國產(chǎn)數(shù)字源表

  臺(tái)式S型

  插卡式C型

  脈沖P型

  大電流HCP型及PL型


  •     CHIP自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

  普賽斯chip自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)用于光芯片 LD-CHIP 高溫/常溫 LIV 測(cè)試、SMSR 測(cè)試及背光抽測(cè)并 對(duì)不同測(cè)試結(jié)果進(jìn)行歸類分檔篩選。芯片 wafer 藍(lán)膜上料,CHIP-ID 自動(dòng)識(shí)別記 憶匹配測(cè)試,通過藍(lán)膜頂針剝離機(jī)構(gòu),吸嘴吸取,機(jī)械手分別搬運(yùn)到高溫及常溫 測(cè)試區(qū)域,自動(dòng)擺位,自動(dòng)給電,收集發(fā)光參數(shù),分析篩選,機(jī)械手搬運(yùn)分檔歸類。


  •     TO三溫測(cè)試系統(tǒng)

  普賽斯 TO 三溫測(cè)試系統(tǒng)支持 TO 工業(yè)級(jí)低溫、常溫、高溫測(cè)試,溫度控制范圍為-40℃~85℃適用于 VCSEL/FP/DFB-TOCAN的自動(dòng)測(cè)試,支持器件任意引腳封裝測(cè)試,支持 LIV 特性測(cè)試以及光譜測(cè)試。系統(tǒng)一次支持兩塊夾具進(jìn)行測(cè)試,每塊夾具可裝載128顆TO,提高測(cè)試產(chǎn)量,系統(tǒng)具有溫控快,溫度均勻性好,穩(wěn)定可靠,測(cè)試效率高的特點(diǎn)。


  •       BAR條自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

  普賽斯BAR條自動(dòng)測(cè)試機(jī)用于 LD 巴條LIV曲線,光譜,背光自動(dòng)測(cè)量。全自動(dòng)上下料,支持多種規(guī)格料盒上料,支持多種規(guī)格料盒或藍(lán)膜下料。常溫、高溫雙溫測(cè)試,高溫測(cè)試溫度可由用戶自定。探針加電,測(cè)試NG chip采取打點(diǎn)標(biāo)記,向用戶開放測(cè)量數(shù)據(jù)庫,用于后續(xù)篩分工序。


  •   光模塊集成式老化系統(tǒng)

  該設(shè)備用于光模塊的老化篩選以及可靠性分析。該系統(tǒng)提供 2~5V 恒壓以及最高 120℃高溫老化條件,同時(shí)對(duì)模塊的工作電流、電壓以及工作環(huán)境溫度進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控測(cè)試,并自動(dòng)進(jìn)行失效判斷。實(shí)時(shí)儲(chǔ)存監(jiān)控?cái)?shù)據(jù),支持對(duì)老化失效模塊進(jìn)行追述,通過 DDM 記錄模塊電壓、溫度、偏置電流、發(fā)射功率、接收功率。最多支持 2016 只模塊(SFP 封裝)的 單次老化。


  •   400G高速誤碼測(cè)試系統(tǒng)

  該產(chǎn)品是一款針對(duì)于多通道PAM4和NRZ應(yīng)用的高速信號(hào)誤碼性能分析儀,最高支持8x56Gb/s PAM4信號(hào)測(cè)試,亦可支持10G~28Gb/s NRZ信號(hào)測(cè)試,設(shè)備包含8路PPG,8路ED收發(fā)端信號(hào)可同時(shí)或者獨(dú)立工作,單路最高支持56Gb/s PAM4信號(hào),支持多類型碼型測(cè)試方案。發(fā)端包含多級(jí)預(yù)加重調(diào)節(jié)模式,可針對(duì)PAM4信號(hào)進(jìn)行眼型調(diào)節(jié)等功能,收 端包含0~9dB CTLE均衡調(diào)節(jié),也可支持FFE、DFE等均衡功能,支持FEC功能,可實(shí)現(xiàn) PRBS錯(cuò)誤校驗(yàn)與修正,KP4/KR4 FEC協(xié)議,具備 SNR監(jiān)測(cè)功能??蓮V泛于 100G 模塊、200G 模塊、400G 模塊、AOC、光器件及子系統(tǒng)研發(fā)生產(chǎn)等光測(cè)試場(chǎng)景,亦可為高速光收發(fā)模塊自動(dòng)化生產(chǎn)測(cè)試提供最佳解決方案。

 第23屆中國國際光電博覽會(huì)(CIOE 2021)

  普賽斯展位信息

  展會(huì)時(shí)間:2021年9月16-18日(周四-周六)

  展會(huì)地點(diǎn):廣東. 深圳國際會(huì)展中心 (廣東省深圳市寶安區(qū)福海街道展城路1號(hào))

  普賽斯展位號(hào):4號(hào)館 4A78

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