安立公司多款光通訊測(cè)試方案閃耀CIOE2018

  ICCSZ訊 安立公司（Anritsu）成立于1895年，是一家擁有123年歷史的全球創(chuàng)新通信測(cè)試與測(cè)量解決方案的供應(yīng)商。安立公司在眾多領(lǐng)域都是馳名全球的品牌，這些領(lǐng)域包括：微波/射頻測(cè)試、無(wú)線通信測(cè)試、工業(yè)自動(dòng)化、數(shù)字傳輸測(cè)試、IP測(cè)試、光通信測(cè)試、信息終端、電子元器件等。其中，測(cè)試測(cè)量領(lǐng)域的業(yè)務(wù)量占到每年公司業(yè)務(wù)總量的70%左右。在光通信測(cè)試領(lǐng)域，安立可以提供完整的光測(cè)試測(cè)量解決方案，可以廣泛應(yīng)用于研發(fā)、生產(chǎn)與現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試。包括手持光源、光功率計(jì)、光時(shí)域反射儀、高精度的可調(diào)諧光源、高精度的光譜分析儀、采樣示波器、誤碼分析儀等。此外還提供泵浦激光器、半導(dǎo)體光放大器等光通信器件。

  2018年是安立公司時(shí)隔多年重返中國(guó)國(guó)際光電博覽會(huì)（CIOE）的一次展示，安立公司有線市場(chǎng)部經(jīng)理趙雁飛先生在展臺(tái)現(xiàn)場(chǎng)接受了訊石光通訊網(wǎng)編輯的采訪，他介紹了在本次展會(huì)期間，安立公司展臺(tái)所展示的最新產(chǎn)品和解決方案，包括如下：

  基于最新高速誤碼分析儀MP1900A的PAM4誤碼測(cè)試方案；

  基于一體化采樣示波器+誤碼儀MP2110A的PAM4示波器方案；

  高度集成化的光模塊產(chǎn)線測(cè)試方案；

  基于MS9740A光譜分析儀的光器件、光芯片測(cè)試方案；

  基于MT1000A/MT1100A的移動(dòng)傳送網(wǎng)絡(luò)測(cè)試方案；

  基于最新MT9085A OTDR的光纖智能化測(cè)試方案；

  基于MS4640系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的光電測(cè)試方案；

  光器件(用于拉曼放大器的650nm泵浦激光器、半導(dǎo)體光放大器、增益芯片)、高速電組件等。

MP1900A助力全方位PAM4誤碼測(cè)試

  MP1900A是一款高性能誤碼率測(cè)試儀，可以支持速率達(dá)64G baud 的PAM4測(cè)試，而且支持強(qiáng)大的加重功能、以及抖動(dòng)和噪聲注入可用于壓力測(cè)試;內(nèi)置時(shí)鐘恢復(fù);支持多通道測(cè)試用于驗(yàn)證串?dāng)_以及被側(cè)件的完整性能;支持PCIe4.0，PCIe5.0 的測(cè)試。展臺(tái)展示了PPG如何能輸出滿足高頻和低噪聲性能要求的64GBaud NRZ和PAM4信號(hào)，高速Tr/Tf 時(shí)間(20~80%)達(dá)到8.5ps(典型值)，固有抖動(dòng)低至170fs(典型值)，達(dá)到64GBaud PAM4測(cè)試儀的最高級(jí)性能。

  MP2110A 是一款內(nèi)置誤碼率測(cè)試儀 (BERT) 和采樣示波器的一體化測(cè)量?jī)x器，支持光模塊的BER測(cè)量、眼圖模板測(cè)試、眼圖分析等評(píng)估操作。就在本周，MP2110A的采樣示波器上剛升級(jí)了PAM4分析功能，在之前26 Gbaud基礎(chǔ)上引入了53 Gbaud PAM4分析功能。本次展臺(tái)上也專(zhuān)門(mén)準(zhǔn)備了相應(yīng)的實(shí)際演示。

  同樣基于MP2110A的高度集成化的光模塊產(chǎn)線測(cè)試方案：支持眼圖、靈敏度、光譜完整的測(cè)試;誤碼儀/示波器一體化，體積小，大大節(jié)省產(chǎn)線的空間;包括10G/100G/400G在內(nèi)多種模塊的測(cè)試;內(nèi)置時(shí)鐘恢復(fù)，方便各種環(huán)境的使用;支持多模和單模的測(cè)試

MT9085系列OTDR提供光纖智能化測(cè)試解決方案

  安立公司的便攜式OTDR測(cè)試儀在業(yè)界一直是赫赫有名的產(chǎn)品，ACCESS Master OTDR 系列自從2004年推出其第一代產(chǎn)品后在全球銷(xiāo)售了30000多臺(tái)。本次展會(huì)上展出的就是最新款MT9085系列OTDR提供光纖智能測(cè)試方案，支持圖形化的故障自動(dòng)診斷，支持200Km以上的長(zhǎng)途光纜的測(cè)試，支持小脈沖，大動(dòng)態(tài)范圍的測(cè)量模式，100ns的脈沖寬度可支持100Km的光纖測(cè)試。支持跨1:128的分光器的測(cè)試;優(yōu)化實(shí)時(shí)測(cè)試模式，支持超過(guò)100Km的光纖熔損耗的實(shí)時(shí)測(cè)試;集成了8英寸的觸摸屏、快捷操作按鍵，方便現(xiàn)場(chǎng)操作人員便捷使用。

快速準(zhǔn)確的光電/電測(cè)量系統(tǒng)

高度集成化的光模塊產(chǎn)線測(cè)試方案

高度集成的PAM4示波器方案

穩(wěn)定快速的光器件和光芯片測(cè)試

安立趙雁飛經(jīng)理（左二）、徐江經(jīng)理（左三）與訊石編輯合影