宏展科技：芯片可靠度測(cè)試機(jī)臺(tái)豐富

  ICC訊 靠度技術(shù)概念

  可靠度是產(chǎn)品以標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)條件下，在特定時(shí)間內(nèi)展現(xiàn)特定功能的能力，可靠度是量測(cè)失效的可能性，失效的比率，以及產(chǎn)品的可修護(hù)性。根據(jù)產(chǎn)品的技術(shù)規(guī)范以及客戶的要求，我們可以執(zhí)行MIL-STD, JEDEC, IEC, JESD, AEC, and EIA等不同規(guī)范的可靠度的測(cè)試。

  測(cè)試機(jī)臺(tái)種類(lèi)

  高溫貯存試驗(yàn) (HTST, High Temperature Storage test)：Lab Companion OVEN-324

  低溫貯存試驗(yàn)(LTST, Low Temperature Storage test)：Lab Companion :PG-408 PG-800

  溫濕度貯存試驗(yàn) (THST, Temperature & Humidity Storage test)：Lab Companion :PL-800 PSL-800

  溫濕度偏壓試驗(yàn) (THB, Temperature & Humidity with bias test)：Lab Companion :PL-800 PSL-800

  高溫水蒸汽壓力試驗(yàn) (Pressure Cooker test (PCT/UB-HAST)：Lab Companion PCT/HAST-350

  高加速溫濕度試驗(yàn) (HAST, Highly Accelerated Stress test )：Lab Companion PCT/HAST-350

  溫度循環(huán)試驗(yàn) (TCT, Temperature Cycling test)：Lab Companion TC-400

  溫度沖擊試驗(yàn) (TST, Thermal Shock test )：Lab Companion TS-71

  高溫壽命試驗(yàn) (HTOL, High Temperature Operation Life test )：Lab Companion KYEC KYE 680 SSE B1120M

  高溫偏壓試驗(yàn) (BLT, Bias Life test)：Lab Companion KYEC KYE 680 SSE B1120M

  回焊爐 (Reflow Test)：臺(tái)技 SMD-10-M16HAO

  技術(shù)原理

  可靠性可以定義為產(chǎn)品在特定的使用環(huán)境條件下，在既定的時(shí)間內(nèi)，執(zhí)行特定功能,成功達(dá)成工作目標(biāo)的機(jī)率。對(duì)于可靠性*直接影響的環(huán)境因子有，溫度變化、溫度、濕度、機(jī)械應(yīng)力、電壓…等等?？煽啃詼y(cè)試主要針對(duì)組件在各種環(huán)境下進(jìn)行實(shí)驗(yàn)，以加速各組件老化及發(fā)生失效現(xiàn)象，進(jìn)而達(dá)到改善設(shè)計(jì)、材料或是制程參數(shù)的目的。

  環(huán)境測(cè)試(Environment Test)

  · 高溫貯存試驗(yàn)(High Temperature Storage Test) : 在高溫的狀態(tài)下,使組件加速老化?？墒闺姎庑阅芊€(wěn)定,以及偵測(cè)表面與結(jié)合缺陷。

  · 低溫貯存試驗(yàn)(Low Temperature Storage Test) : 在極低的溫度下，利用膨脹收縮造成機(jī)械變型。對(duì)組件結(jié)構(gòu)上造成脆化而引發(fā)的裂痕。

  · 溫濕度貯存試驗(yàn)(Temperature Humidity Storage Test) : 以高溫潮濕的環(huán)境,加速化學(xué)反應(yīng)造成腐蝕現(xiàn)象。測(cè)試組件的抗蝕性。

  · 高溫水蒸汽壓力試驗(yàn)(Pressure Cook Test)/高加速溫濕度試驗(yàn)(High Acclerate Stress Test) : 與溫濕度貯存試驗(yàn)原理相同，不同地方是在加濕過(guò)程中,壓力大于大氣壓力，更加速了腐蝕速度，引發(fā)出封裝不佳的產(chǎn)品,內(nèi)部因此而腐蝕。

  · 溫度循環(huán)試驗(yàn)(Temperature Cycling Test) : 使零件冷熱交替幾個(gè)循環(huán)，利用膨脹系數(shù)的差異，造成對(duì)組件的影響?？捎脕?lái)剔除因晶粒﹑打線及封裝等受溫度變化而失效之零件。

  · 溫度沖擊試驗(yàn)(Thermal shock Test) : 基本上跟溫度循環(huán)試驗(yàn)原理一樣，差異是加快溫度變化速度。測(cè)定電子零件曝露于極端高低溫情況下之抗力,可以偵測(cè)包裝密封﹑晶粒結(jié)合﹑打線結(jié)合﹑基體裂縫等缺陷。

  · 高溫壽命試驗(yàn)(High Temperature Operating Life Test) : 利用高溫及電壓加速的方法，在高溫下加速老化，再外加訊號(hào)進(jìn)去，仿真組件執(zhí)行其功能的狀態(tài)。藉短時(shí)間的實(shí)驗(yàn),來(lái)評(píng)估IC產(chǎn)品的長(zhǎng)時(shí)間操作壽命。

  · 前處里(Precondition Test) 對(duì)零件執(zhí)行功能量測(cè)﹑外觀檢查﹑超音波掃瞄(SAT) ﹑溫度循環(huán)(Temperature Cycling ) ﹑烘烤(Bake )浸濕( Moisture Soak )等程序。仿真組件在開(kāi)始使用前所經(jīng)歷的運(yùn)輸、儲(chǔ)存、回焊等變化做為其它可靠性試驗(yàn)之前置處理。

  運(yùn)送測(cè)試(Transportation Test)

  · 震動(dòng)測(cè)試(Vibration Test)：仿真地面運(yùn)輸或產(chǎn)品操作使用時(shí),所產(chǎn)生的震動(dòng)環(huán)境。將構(gòu)裝組件結(jié)構(gòu)內(nèi)原有的缺陷，經(jīng)由震動(dòng)行為加速缺陷的劣化狀況，進(jìn)而導(dǎo)致組件機(jī)制失效。

  · 機(jī)械沖擊測(cè)試(Mechanical Shock Test)：將試件在一定的高度上,沿斜滑軌下滑與底部的障礙物相撞,而產(chǎn)生沖擊。將構(gòu)裝組件結(jié)構(gòu)內(nèi)原有的缺陷，經(jīng)由沖擊行為加速缺陷的劣化狀況，進(jìn)而導(dǎo)致組件機(jī)制失效。

  · 落下測(cè)試(Drop Test)：把裝有試件的工作臺(tái)上升到一定高度,突然釋放而跌落,與底部的鋼板或水泥板相撞而發(fā)生沖擊。評(píng)估產(chǎn)品因?yàn)榈?，于安全條件需求下*小的強(qiáng)韌性。

  電磁干擾測(cè)試(EMS Test)

  · 靜電測(cè)試

  · 電性拴鎖測(cè)試

  · 電磁波干擾測(cè)試

  · 測(cè)試條件

  芯片可靠性測(cè)試設(shè)備咨詢(xún)

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