MultiLane DAC無(wú)源及ACC、AOC有源cable測(cè)試方案

  ICC訊 在現(xiàn)代高速數(shù)據(jù)互聯(lián)通信中，除了光模塊在長(zhǎng)距、中距和短距數(shù)據(jù)傳輸中發(fā)揮著重要作用，30米以內(nèi)的短距離傳輸還可能選用AOC、ACC等有源cable，而數(shù)據(jù)中心機(jī)架內(nèi)部之間的短距離直連更會(huì)選用低功耗、低成本的DAC無(wú)源cable。

  MultiLane在對(duì)數(shù)據(jù)互聯(lián)的測(cè)試解決方案中，除了擁有能滿足光模塊測(cè)試的誤碼儀、光電采樣示波器和測(cè)試板等相應(yīng)方案，還擁有一款強(qiáng)大的三合一設(shè)備，既能滿足AOC、ACC等有源cable的測(cè)試需求，也能滿足無(wú)源DAC cable的測(cè)試需要，這就是之前我們有在TIA/RF Driver測(cè)試方案中提到的ML4035綜合測(cè)試設(shè)備。ML4035由4個(gè)35GHz的電采樣示波器/TDR通道，4個(gè)高達(dá)56GBd PAM4的PPG通道及4個(gè)高達(dá)56GBd PAM4 ED通道組成。

                          ML4035采樣示波器、誤碼儀及S參數(shù)測(cè)量三合一                                                 QSFP28/56 DAC測(cè)試

  ML4035幾乎涵蓋DAC無(wú)源cable標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試里的所有S參數(shù)，其中包括Impedance、Return Loss、Insertion loss、FEXT、NEXT、ICN及COM等，覆蓋10G-800G的DAC測(cè)量。在測(cè)量S參數(shù)的同時(shí)，由于其擁有35GHz的電采樣示波器，還可以自建電眼模板進(jìn)行電眼margin、眼高等參數(shù)的測(cè)量，讓測(cè)試結(jié)果更加精準(zhǔn)。ML1105是MultiLane幫生產(chǎn)客戶開(kāi)發(fā)的自動(dòng)化DAC測(cè)試程序，將所有測(cè)試相關(guān)的參數(shù)、校準(zhǔn)及文件保存等內(nèi)容都已經(jīng)寫(xiě)好在程序里，客戶直接按步驟操作測(cè)試即可以完成測(cè)量，最后生成測(cè)試報(bào)告。

ML1105自動(dòng)化測(cè)試軟件

  ML4035的多通道測(cè)試設(shè)備與傳統(tǒng)的VNA+RF switch的DAC測(cè)量方式相比，由于多通道并行測(cè)量提高了測(cè)試效率與速度，并增加了更多測(cè)試項(xiàng)目的可能性，如實(shí)際測(cè)量電眼圖及誤碼率。同時(shí)成本也遠(yuǎn)遠(yuǎn)優(yōu)于傳統(tǒng)的測(cè)試方案，DAC cable快速測(cè)量的理想選擇。

                               ML4035 BERT GUI                                                                                         ML4035電采樣示波器GUI

  除了DAC無(wú)源cable的測(cè)量，ML4035也是ACC及AOC有源cable測(cè)試的不二之選。前端工序，ML4035可以對(duì)ACC的銅纜裸線進(jìn)行S參數(shù)及Delay的測(cè)量，對(duì)AOC的模塊進(jìn)行誤碼驗(yàn)證。當(dāng)ACC或AOC組裝完成以后，ML4035除了做傳統(tǒng)的誤碼檢測(cè)以外，還可以進(jìn)行每個(gè)通道的真實(shí)電眼的測(cè)量及焊接錯(cuò)位檢測(cè)，這樣大大提高了ACC、AOC的品質(zhì)準(zhǔn)確率。特別像QDD、SFP-DD及DSFP等高速AOC，傳統(tǒng)誤碼檢測(cè)可能已經(jīng)滿足不了測(cè)試需求，ML4035誤碼儀、TDR及電采樣示波器的完美結(jié)合，讓產(chǎn)品品質(zhì)得到了保障。

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