ICC訊 2023年9月6-8日,第24屆CIOE在深圳國(guó)際會(huì)展中心(寶安新館)隆重舉行,EXFO攜多款首次亮相的明星產(chǎn)品/解決方案重磅參展,其中BA-4080 二層流量誤碼儀和T500S 高功率可連續(xù)調(diào)諧激光器備受矚目。9月8日,訊石來到EXFO展臺(tái),對(duì)話EXFO測(cè)試解決方案總監(jiān)Jones Huang和EXFO Optics產(chǎn)品線經(jīng)理和解決方案經(jīng)理Francois Couny,解讀EXFO創(chuàng)新產(chǎn)品和技術(shù)亮點(diǎn)。
Jones Huang:BA-4080 二層流量誤碼儀是邁向 1.6T,800G DR4/FR4/LR4的領(lǐng)先測(cè)試方案
據(jù)EXFO測(cè)試解決方案總監(jiān)Jones Huang介紹,在光往高速發(fā)展越來越快的趨勢(shì)下,儀表的升級(jí)是必然的。進(jìn)入800G四通道時(shí)代,傳統(tǒng)的誤碼儀已經(jīng)不能負(fù)擔(dān)測(cè)試的重任了,EXFO推出BA-4080二層流量誤碼儀是目前領(lǐng)先的解決方案。BA-4080二層流量誤碼儀是EXFO全球首創(chuàng)地將誤碼儀與流量?jī)x集成在一起。特別之處還有,保留誤碼儀傳統(tǒng)使用界面跟外部使用界面,從第一層到第二層都可以測(cè)試。此外,針對(duì)目前市場(chǎng)上較為火爆的LPO,EXFO也能做到傳統(tǒng)誤碼儀做不到的32 taps FFE,可以協(xié)助LPO模塊更貼近真實(shí)交換機(jī)的測(cè)試環(huán)境,還可以進(jìn)一步分析反射帶來的效應(yīng)。
BA-4080 二層流量誤碼儀特點(diǎn)
· 支持高頻 RF 接頭的誤碼及流量?jī)x,是邁向 1.6T,800G DR4/FR4/LR4 的領(lǐng)先測(cè)試方案
· 真實(shí)的硬件設(shè)計(jì)的流量?jī)x支持以太網(wǎng)技術(shù)聯(lián)盟(ETC)的 800G 標(biāo)準(zhǔn)(800G ETC)
· 內(nèi)建強(qiáng)大的均衡能力,可支持 LPO 模塊測(cè)試
Jones Huang表示,對(duì)儀表廠商而言重要的是解決客戶的問題。如何更好地解決客戶的問題,就需要配合客戶研發(fā)溝通提供“分析的思維”。EXFO不僅保持一流的技術(shù)水準(zhǔn),在服務(wù)客戶方面,更加注重“提供分析思維”,把客戶面臨的問題研究透徹,進(jìn)而提供客戶所需要的優(yōu)選測(cè)試方案。
Jones Huang認(rèn)為,下一代的光800G DR4以及OSFP-XD 1.6T,EXFO的BA-4080 二層流量誤碼儀是目前市場(chǎng)上的領(lǐng)先解決方案。
Francois Couny:四大創(chuàng)新助力滿足硅光及PIC研發(fā)和量產(chǎn)過程中的精確、高效測(cè)試要求
EXFO在本次展會(huì)上的另一大亮點(diǎn)產(chǎn)品則是PIC 測(cè)試系統(tǒng),據(jù)Francois Couny介紹,本次展示有四大創(chuàng)新點(diǎn)。
首先,采用新的T500S光源,在PIC測(cè)試中,需要可調(diào)諧激光器連續(xù)掃描,測(cè)試系統(tǒng)記錄每一個(gè)波長(zhǎng)下的功率值。這個(gè)測(cè)試對(duì)PIC行業(yè)而言至關(guān)重要。
其次,過去傳統(tǒng)的測(cè)試系統(tǒng)波長(zhǎng)分辨率是1pm,EXFO最新的CTP10測(cè)試系統(tǒng),結(jié)合T500S 高功率可連續(xù)調(diào)諧激光器可以實(shí)現(xiàn)0.02 pm的分辨率。
第三,測(cè)量功能的擴(kuò)展,基于T500S 高功率可連續(xù)調(diào)諧激光器的CTP10測(cè)試系統(tǒng)涵蓋了光電流的測(cè)試,把電流的測(cè)試也集成在這一平臺(tái)上,既可以測(cè)光,又可以測(cè)電。
第四,EXFO收購(gòu)EHVA實(shí)現(xiàn)強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)合,EHVA公司探針平臺(tái)的創(chuàng)始人本身就是PIC研究人員出身,深刻理解了PIC的測(cè)試挑戰(zhàn)具體在哪里。因此,EHVA在晶圓的測(cè)試當(dāng)中,實(shí)現(xiàn)全球首家邊緣耦合,這對(duì)精確的控制有非常高的要求,當(dāng)然也有很多好處。另外傳統(tǒng)的晶圓平臺(tái)一般來講探針位置布局固定,但EHVA可以實(shí)現(xiàn)可以根據(jù)測(cè)試需求來進(jìn)行位置重新配置,對(duì)用戶而言使用非常靈活。此外,EHVA集成了軟硬件以及電測(cè)試這三方,既可以靈活高精度地測(cè)試,也可以進(jìn)行專業(yè)的數(shù)據(jù)分析。
基于T500S 高功率可連續(xù)調(diào)諧激光器的CTP10系統(tǒng)的特點(diǎn)
系統(tǒng)的測(cè)試速度提高一倍:在200nm/s掃描速度條件下, 分辨率優(yōu)于1pm,單次掃描動(dòng)態(tài)范圍大于70dB,滿足硅光及PIC研發(fā)和量產(chǎn)過程中的精確、高效測(cè)試要求; 系統(tǒng)最高波長(zhǎng)分辨率0.02pm, 適合諸如高Q值微環(huán)等光器件的高精度測(cè)試。
此外,EXFO還展示了其他多款亮點(diǎn)產(chǎn)品,包括FTBx-88800系列800G測(cè)試模塊、64G光纖通道測(cè)試解決方案、D系列OTDR和PIC測(cè)試用全自動(dòng)光電流模塊等,展臺(tái)現(xiàn)場(chǎng)人潮涌動(dòng),交流不歇。
· FTBx-88800系列800G測(cè)試模塊
功能強(qiáng)大的EXFO 800G測(cè)試解決方案首次在中國(guó)市場(chǎng)亮相,是開發(fā)人員驗(yàn)證互操作性和最新800G標(biāo)準(zhǔn)合規(guī)性的完美選擇。該解決方案的獨(dú)特亮點(diǎn)在于它既有機(jī)架式配置,也有便攜式配置。FTBx-88800系列模塊可在整個(gè)高速環(huán)境中進(jìn)行多種測(cè)試,包括網(wǎng)絡(luò)鏈路測(cè)試,具有光模塊分路傳輸(breakout)測(cè)試功能,并支持采用不同封裝形式的光模塊(如QSFP)。它們還可以與EXFO的FTB-1 Pro平臺(tái)相結(jié)合,成為一款便攜、緊湊的800G測(cè)試解決方案。
· 64G光纖通道測(cè)試解決方案
該解決方案可確保新的64G FC開關(guān)和光模塊在從服務(wù)開通驗(yàn)證到終端節(jié)點(diǎn)排障的每個(gè)階段都能可靠地運(yùn)行。它可以作為便攜式解決方案在現(xiàn)場(chǎng)使用,也可以按照在EXFO的機(jī)架式安裝平臺(tái)中使用。
· D系列OTDR
EXFO將繼續(xù)展示最新的OTDR,即D系列,該系列可提供高精準(zhǔn)度測(cè)量,用于鑒定和驗(yàn)證光纖鏈路。這些OTDR支持?jǐn)?shù)據(jù)中心、光纖網(wǎng)絡(luò)和移動(dòng)網(wǎng)絡(luò)中的關(guān)鍵光纖部署與運(yùn)營(yíng)。
· PIC測(cè)試用全自動(dòng)光電流模塊
該模塊于2013年初問世,它強(qiáng)化了我們的高性能CTP10無源器件測(cè)試平臺(tái),該平臺(tái)目前可結(jié)合OPAL端面耦合探針臺(tái)的功能,實(shí)現(xiàn)快速、自動(dòng)且精準(zhǔn)的PIC測(cè)試。
訊石采訪Jones Huang(右二)、Francois Couny(右一)和孫學(xué)瑞(左一)留影