【光博會精彩回顧】| R&S攜四大測試解決方案精彩亮相

  ICC訊 作為極具規(guī)模及影響力的光電產(chǎn)業(yè)綜合性展會，第24屆光電博覽會于2023年9月6-8日在深圳國際會展中心舉辦。本次光博會上，R&S高級應(yīng)用工程師謝樹義先生帶來了“羅德與施瓦茨在光電器件測試中的應(yīng)用”精彩演講。現(xiàn)場，R&S展示了800G/1.6T光電器件頻域參數(shù)測試解決方案、相干接收器件的片上測試解決方案、示波器光器件測試解決方案、高端信號與相位噪聲分析儀測試解決方案。

  展示方案

  800G/1.6T光電器件頻域參數(shù)測試解決方案

  R&S與六幺四科技推出的頻域參數(shù)測試方案-GOCA系列通用光電元器件分析儀，能夠幫助用戶快速可靠地測量800G/1.6T光電元器件的頻域參數(shù)，助力用戶實現(xiàn)高效率高質(zhì)量的研發(fā)和生產(chǎn)。

  GOCA系列通用光電元器件分析儀由R&S ZNA、R&S ZNB等系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀和專用光電底座協(xié)同構(gòu)成，不僅可實現(xiàn)電器件參數(shù)分析，還可實現(xiàn)用戶對于直調(diào)激光器、電光調(diào)制器、光電探測器、光微環(huán)、光柵等光電芯片、器件和模塊的測量，支持S參數(shù)、截止頻率、差分/共模參數(shù)、延時參數(shù)、交調(diào)/互調(diào)參數(shù)、噪聲系數(shù)等關(guān)鍵數(shù)據(jù)的獲取，適用于光電元器件研發(fā)、生產(chǎn)和應(yīng)用的整個周期鏈。

  測試系統(tǒng)方案構(gòu)成

  · R&S微波矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 ZNA67

  · GOCA-67光電底座(由方案伙伴六幺四科技提供)

  方案優(yōu)勢：

  · 集成電-電、電-光、光-電、光-光四類元器件頻域參數(shù)的測量功能

  · 測量頻率最高可達110 GHz

  · 測量波長覆蓋1550nm / 1310nm / 850nm

  相干接收器件的片上測試解決方案

  R&S的67 GHz(擴頻可至110 GHz)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀ZNA67與六幺四科技協(xié)同工作，推出相干接收系統(tǒng)片上測試的完整解決方案 — ICRA-67相干接收系統(tǒng)分析儀可實現(xiàn)器件的片上測量。

  測試系統(tǒng)方案構(gòu)成：

  · R&S微波矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 ZNA67

  · ICRA-67光電底座，擴頻可至110 GHz(由方案伙伴六幺四科技提供)

  方案優(yōu)勢：

  · 測試參數(shù)完整(相對幅度響應(yīng)，相對相位響應(yīng)，絕對幅度響應(yīng)(選件)，絕對相位響應(yīng)(選件)，相對延時)

  · 光源波長可定制, 供標(biāo)配波長如下：O波段、C波段(1530-1565nm)，L波段(1565-1625nm)、多模850nm

  · 出色的精度和分辨率

  · 高測試效率

  · 可編程

  典型指標(biāo)：

  · 射頻工作頻率：10 MHz-67 GHz(擴頻可至110 GHz)

  · 幅度不確定度(典型值)±1.8db

  · 相位不確定度(典型值)±2.3°

  · 光源波長穩(wěn)定性：±1pm

  · 光源功率穩(wěn)定性：±0.1dB

   示波器光器件測試解決方案

  R&S聯(lián)合推出光器件測試解決方案，可幫助用戶快速的測試光電元器件的時域參數(shù)。MKS|Newport光電探測器和R&S RTO6、RTP等系列示波器協(xié)同工作，集成光電元器件時域參數(shù)的測量功能。實現(xiàn)了激光元器件的參數(shù)分析，還支持光電信號分析，可用于光電元器件的研發(fā)、生產(chǎn)和應(yīng)用。

  RTO6 示波器

  RTO6示波器系列提供出色信號，助您了解應(yīng)用情況。這款全集成式測試解決方案兼具15.6"大觸摸屏、全新圖形用戶界面、優(yōu)秀的波形捕獲率、出色的信號保真度、數(shù)字觸發(fā)和快速響應(yīng)的深存儲，可用于頻率、協(xié)議和邏輯分析。RTO6示波器系列具有豐富的測量工具和新型用戶界面，能夠快速解決各種簡單或復(fù)雜的電路問題。

  產(chǎn)品亮點：

  · 最大6 GHz帶寬

  · 每秒一百萬波形

  · 9.4ENOB，確保優(yōu)異的信號完整性

  · 最大2 Gpoints存儲深度

  · 出色的頻率區(qū)域觸發(fā)

  RTP 示波器

  RTP高性能示波器將優(yōu)異的信號完整性與波形捕獲率相結(jié)合。它結(jié)構(gòu)緊湊，內(nèi)部集成定制化的前端ASIC和實時處理硬件，能夠以全新的速度執(zhí)行準確測量。

  產(chǎn)品亮點：

  · 波形捕獲率高達750,000波形/秒，可快速查找故障

  · 高精度數(shù)字觸發(fā)，無帶寬限制

  · 實時去嵌，用于觸發(fā)和快速波形捕獲

  · 緊湊設(shè)計，靜音運行，適用于任何實驗室環(huán)境

  · +/-0.25dB平坦頻率響應(yīng)，實現(xiàn)準確測量

  高端信號與相位噪聲分析儀測試解決方案

  FSWP相位噪聲分析儀和VCO測試儀

  產(chǎn)品亮點：

  · 高端信號與頻譜分析儀和相位噪聲分析儀集于一體

  · 互相關(guān)技術(shù)和優(yōu)異的近載波性能相結(jié)合，即使是脈沖信號也能確保靈敏的相位噪聲測量

  · 頻率范圍介于1 MHz至50 GHz，使用外部混頻器時高達500 GHz

  · 用于測量殘余相位噪聲(包括脈沖信號噪聲)的內(nèi)部源

  · 同時測量相位噪聲和幅度噪聲

  關(guān)鍵性能：

  · 頻率范圍從1 MHz到8 GHz/26.5 GHz/50 GHz，使用外接諧波混頻器可以達到 500 GHz

  · 使用互相關(guān)技術(shù)和噪聲極低的基準源，相位噪聲測量的靈敏度高

  -172dBc/Hz ，1GHz載頻頻率，10kHz 頻偏

  -158dBc/Hz ，10GHz載頻頻率，10kHz頻偏

  · 同時測量幅度噪聲和相位噪聲，一鍵式測量方法完成脈沖信號的相位噪聲測試

  · 內(nèi)置低噪聲信號源用于附加相噪和脈沖附加相噪測試

  · 單表實現(xiàn)高性能相噪分析和高端信號與頻譜分析

  · 可以在8GHz的范圍內(nèi)分析跳頻信號的瞬態(tài)特性

  SMA100B射頻和微波信號發(fā)生器

  產(chǎn)品亮點：

  · 介于8 kHz至3 GHz 、6 GHz、12.75 GH z、20 GHz、31.8 GHz、40 GHz、50 GHz和67 GHz(過量程范圍模式下最高達72 GHz)

  · 差分時鐘輸出端口

  · 出色的信號純度

  · 優(yōu)秀的SSB相位噪聲

  關(guān)鍵性能：

  · 時鐘/本振替換

  · ADC/DAC測試

  · 具有不間斷電平掃描的ALC/AGC增益?zhèn)鬟f函數(shù)測試

  羅德與施瓦茨科技集團開發(fā)、生產(chǎn)和銷售種類廣泛的專業(yè)電子產(chǎn)品。公司推出豐富的產(chǎn)品組合，旨在締造一個更加安全的互聯(lián)世界。在測試與測量、安全通信、網(wǎng)絡(luò)和網(wǎng)絡(luò)安全以及廣播和媒體等市場，全球客戶都信賴羅德與施瓦茨及其提供的先進解決方案。在成熟的業(yè)務(wù)領(lǐng)域之外，羅德與施瓦茨還大力投資人工智能、工業(yè)物聯(lián)網(wǎng) (IIoT)、6G、云解決方案和量子技術(shù)等各種未來技術(shù)。自公司創(chuàng)立以來的近 90 年間，羅德與施瓦茨是眾多行業(yè)客戶的可靠合作伙伴。