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LTE測試技術挑戰(zhàn)，共創(chuàng)4G時代美好未來

訊石光通訊網(wǎng)   發(fā)布時間:2014/1/8 11:36:18   編者:iccsz    
摘要：2013年12月27日下午，第九屆IMCA 國際儀器儀表與測控自動化高峰論壇暨“2013 TD-LTE測量測試核心技術大會”，在深圳馬可孛羅好日子酒店舉辦并圓滿成功！迎接4G時代LET測量測試帶來的變革和挑戰(zhàn)，LTE將為測量測試產(chǎn)業(yè)鏈帶來前所未有的發(fā)展機遇。此屆測量測試業(yè)界翹楚聚焦的2013 TD-LTE測量測試核心技術大會，以“4G時代，共創(chuàng)美好未來”為主題成功打造了一個高水準的高峰論壇。

內(nèi)容來自：訊石光通訊咨詢網(wǎng)
本文地址：http://odinmetals.com//Site/CN/News/2014/01/08/20140108033910433800.htm 轉載請保留文章出處
關鍵字: LTE 測試設備
文章標題:LTE測試技術挑戰(zhàn)，共創(chuàng)4G時代美好未來
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