全面高效評估Combo PON光器件的復雜光路性能

       ICCSZ訊 寬帶作為經(jīng)濟發(fā)展基礎平臺的作用日益突出。為應對不斷增長的高帶寬需求，運營商已普遍提供百兆以上業(yè)務，并在部分地區(qū)開通千兆接入作為方向引領。解決GPON與XG-PON共存是下一代PON部署重點。XG-PON標準為ITU-T G.987系列，是下行10Gbit/s、上行2.5Gbit/s的非對稱模式。GPON和XGPON頻譜完全獨立，XGPON不能直接兼容GPON，實現(xiàn)GPON和XGPON的共存可通過合波方式將GPON升級到XG-GPON。采用光模塊合一的Combo PON方案，使GPON和10G GPON光波在一個光模塊內(nèi)進行雙通道合波后從同一光口輸出;進行10G GPON升級時，只需用Combo PON線卡替換原OLT上的GPON線卡，原GPON線卡上的光纖同步割接到Combo PON線卡上即可實現(xiàn)GPON和10G GPON的共存。

  目前Combo PON的光路大多采用高斯光束或單片準直透鏡進行的準直光路，光器件的光學設計復雜，而且由于光束需要通過較多的角度濾光片，功率損耗過大，復雜光路的隔離和串擾成為測試難點，兩發(fā)兩收的測試效率也制約了生產(chǎn)制造的產(chǎn)能。

  上圖所示，Combo PON器件內(nèi)部需要多個準直透鏡以及多個濾波片才能完成兩發(fā)兩收的復雜光路設計，為了滿足XGPON的實際應用場景，要充分評估兩個發(fā)射波長對不同接收的內(nèi)部光串擾，這對PON系統(tǒng)尤為重要。

  普賽斯結合Combo PON測試難點，推出一鍵Combo PON器件綜合測試系統(tǒng)，模擬器件真實應用場景，30秒一鍵完成兩發(fā)兩收的近30多種綜合參數(shù)的測試，包括DML發(fā)射和EML發(fā)射，以及雙接收的靈敏度測試，配套專利的測試夾具，能夠支持復雜光路的內(nèi)部串擾測試，測試效率高，設備集成度高，全面高效的評估Combo PON光器件的復雜光路性能，幫助生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品性能和測試效率。