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讓硅發(fā)光強(qiáng)度提高超十倍!MIT實(shí)現(xiàn)全硅基芯片間高速光通信

摘要:在提高硅的電致發(fā)光亮度與速度以及在商用微電子芯片內(nèi)部直接實(shí)現(xiàn)全硅基光電融合上,麻省理工學(xué)院 RLE 實(shí)驗(yàn)室 (the Research Laboratory of Electronics) 博士生薛今聯(lián)合半導(dǎo)體廠商格羅方德的合作研究人員取得突破性進(jìn)展,為微電子芯片光互連、短距高速光通信以及高度集成的光學(xué)傳感與探測(cè)提供了全新的可能性。

  發(fā)光強(qiáng)度提高超十倍!MIT實(shí)現(xiàn)全基芯片間高速光通信

  當(dāng)晶體管小到無(wú)法再縮小、單位面積電子芯片的性能難再提升,當(dāng)摩爾定律失效將成事實(shí),人們不再執(zhí)著于單純提升電子芯片的時(shí)鐘速度和傳輸帶寬,轉(zhuǎn)而嘗試將光與電的優(yōu)勢(shì)結(jié)合起來(lái),以期收獲 1+1>2 的效果。

  作為一種使用最為廣泛的半導(dǎo)體材料,在微電子、傳感和光伏領(lǐng)域幾近全能,從手機(jī)、電腦里最基礎(chǔ)的 CPU、GPU、內(nèi)存閃存,到絕大多數(shù)消費(fèi)電子產(chǎn)品的攝像感光元件,再到新能源領(lǐng)域舉足輕重的光伏電池等都被它所壟斷。但唯獨(dú)欠缺獨(dú)立發(fā)光能力,這致使光電半導(dǎo)體器件只能用其他材料替代。如幾乎所有的 LED 固態(tài)照明裝備、LCD 顯示屏的背光、及代表未來(lái)平面顯示技術(shù)的 micro-LED 陣列,均是基于 III-V 族半導(dǎo)體的氮化鎵。

(來(lái)源:Pixabay)

  III-V 族材料發(fā)光性能一流,但由于材料與制造工藝的巨大差異,將 III-V 族材料制成的 LED 或者微型半導(dǎo)體激光器和基芯片結(jié)合到一起需要非常多額外的工序、封裝以及互聯(lián)方案,這大大增加了芯片或者模塊的制造成本,降低了集成度和可靠性,且增加了數(shù)據(jù)延遲。

  近期,在提高的電致發(fā)光亮度與速度以及在商用微電子芯片內(nèi)部直接實(shí)現(xiàn)全基光電融合上,麻省理工學(xué)院 RLE 實(shí)驗(yàn)室 (the Research Laboratory of Electronics) 博士生薛今聯(lián)合半導(dǎo)體廠商格羅方德的合作研究人員取得突破性進(jìn)展,為微電子芯片光互連、短距高速光通信以及高度集成的光學(xué)傳感與探測(cè)提供了全新的可能性。

  他們?cè)O(shè)計(jì)了一種微米級(jí)大小正向偏置全基 LED,在完全集成于 55 納米制程商用 CMOS 微電子芯片(無(wú)任何實(shí)驗(yàn)室處理)的基礎(chǔ)上實(shí)現(xiàn)了低電壓、高速高亮的近紅外發(fā)光,其發(fā)光強(qiáng)度和調(diào)制解調(diào)速度可同時(shí)達(dá)到此前類(lèi)似器件實(shí)驗(yàn)室記錄的十倍以上。

圖|基 micro-LED 集成在 55BCDL CMOS 上

  此外,他們還嘗試了將該 micro-LED 和另外單獨(dú)開(kāi)發(fā)的單光子雪崩二極管以及其他微電子器件全部集成于單塊芯片,并首次概念性演示了基于光纖傳輸?shù)娜?A href="http://odinmetals.com/site/CN/Search.aspx?page=1&keywords=%e7%a1%85&column_id=ALL&station=%E5%85%A8%E9%83%A8" target="_blank">硅基芯片到芯片的高速光通信。該項(xiàng)研究在 2020 年 12 月的 IEDM(International Electron Devices Meeting,即 IEEE 國(guó)際電子器件大會(huì))會(huì)議上進(jìn)行了介紹,并在 IEEE Transactions on Electron Devices 上進(jìn)一步發(fā)表。

  在薛今看來(lái),作為一種最重要的半導(dǎo)體在發(fā)光能力上的缺陷 “就像一張接近完美的拼圖少了一塊,而且是非常重要的一塊?!?為使這張拼圖完整呈現(xiàn),薛今大概從 2 年前正式踏上 “缺失拼圖的搜尋之路”,他相信這塊拼圖的去向是有跡可循的。因?yàn)椋?A href="http://odinmetals.com/site/CN/Search.aspx?page=1&keywords=%e7%a1%85&column_id=ALL&station=%E5%85%A8%E9%83%A8" target="_blank">硅具有優(yōu)異的感光性質(zhì),單純從熱力學(xué)可逆性的角度上來(lái)說(shuō),獲得類(lèi)似的發(fā)光性能并非絕無(wú)可能。”

  通常條件下幾乎無(wú)法發(fā)光,那就創(chuàng)造特殊條件讓它發(fā)光

  在出發(fā) “搜圖” 之前,薛今像眾多研究者一樣對(duì) “發(fā)光能力出逃” 的可能路線做了充分研究,探索它出逃的原因、分析它可能去的地點(diǎn)等。

  其實(shí),早在二十世紀(jì)八十年代末期,研究人員就已經(jīng)預(yù)測(cè)到了基發(fā)光器件的巨大潛力,并提出了全基光電融合的設(shè)想。在那之后的二三十年里,全世界掀起了一股開(kāi)發(fā)基 LED 甚至基激光器的熱潮。為克服的間接帶隙這一本源性質(zhì),研究人員提出了納米晶體量子約束、錫鍺合金改變能帶結(jié)構(gòu)、參雜稀土元素、制造特殊缺陷的能級(jí)躍遷直接改變晶體結(jié)構(gòu)、利用雪崩效應(yīng)發(fā)光等方案,但每種方案在帶來(lái)一方面進(jìn)步的同時(shí)都在另一方面存在難以克服的障礙。以至于迄今為止高效、高亮的基發(fā)光器件都未能實(shí)現(xiàn)。

  薛今在他的研究過(guò)程中發(fā)現(xiàn),業(yè)內(nèi)此前的研究過(guò)于強(qiáng)調(diào)直接從的間接帶隙性質(zhì)進(jìn)行突破,而忽略了其他的策略 —— 如繞開(kāi)間接帶隙性質(zhì)這一障礙轉(zhuǎn)而去控制其他限制電致發(fā)光的本質(zhì)因素。

  他告訴 DeepTech:“半導(dǎo)體發(fā)光現(xiàn)象的本質(zhì)其實(shí)是內(nèi)部各種載流子復(fù)合機(jī)制的競(jìng)爭(zhēng)。這好比一條注入了電子的主水管分岔成好幾條支路,其中只有一條支路通向發(fā)光,而其余的都是發(fā)熱。既然間接帶隙這一固有性質(zhì)使得的發(fā)光道路特別崎嶇難走,那就想辦法掐斷其他所有讓他不發(fā)光的道路。譬如,減少載流子在不理想的材料表面復(fù)合并產(chǎn)生聲子(發(fā)熱)的可能性?!?

  所以,為了實(shí)現(xiàn)的高發(fā)光率,薛今利用新的器件設(shè)計(jì)方案把載流子引入、并約束在高質(zhì)量介面內(nèi)部,最大程度上抑制載流子復(fù)合成聲子發(fā)熱的可能性,為營(yíng)造了一個(gè)電子直達(dá)其 “內(nèi)心世界” 的 “專(zhuān)屬通道”。

圖|直徑 4 微米的 CMOS LED 的顯微照片,左(斷電狀態(tài)下)右(通電狀態(tài)下),用普通的 CMOS 相機(jī)拍攝所得

  經(jīng)過(guò)實(shí)驗(yàn)表明,在室溫環(huán)境下薛今設(shè)計(jì)的基 LED 在 2.5 伏特以下,芯片外部發(fā)光強(qiáng)度可以穩(wěn)定達(dá)到 40mW/c㎡以上。這一亮度已遠(yuǎn)超過(guò)一般手機(jī)屏幕或者家用顯示器電視的最大亮度。這種更高的發(fā)光性能將有助于在微電子領(lǐng)域的光通信、光傳感等方面發(fā)揮優(yōu)勢(shì)。

圖|各種 LED 的發(fā)射強(qiáng)度與工作正向電壓的關(guān)系(4 微米直徑 LED 的強(qiáng)度與偏置電壓的關(guān)系)

  并且,在未來(lái)微電子和光電器件趨小的發(fā)展走勢(shì)下,薛今說(shuō),微型基 LED 將展現(xiàn)出更大的優(yōu)勢(shì)。

  他在研究中發(fā)現(xiàn),所有微型半導(dǎo)體發(fā)光器件的效率均正相關(guān)于核心載流子復(fù)合區(qū)域的體積與表面積的比值,且同時(shí)正相關(guān)于該區(qū)域的介面表面性質(zhì)。簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō),就是無(wú)論哪一種半導(dǎo)體所制成的發(fā)光器件,體積越小則效率必然越低,另外材料的介面性質(zhì)不佳也會(huì)使效率成倍變差。

  最近的研究表明,III-V 族半導(dǎo)體在縮小到一微米及以下時(shí),幾乎變得和一樣難以在常溫下電致發(fā)光。薛今說(shuō),“III-V 族半導(dǎo)體的介面性質(zhì)很難處理好,只不過(guò)現(xiàn)有的發(fā)光器件體積都很大,基本都是毫米級(jí)別,問(wèn)題尚未顯現(xiàn)。但若未來(lái)順應(yīng)高度集成化的需求將器件進(jìn)一步微型化,這一缺陷就會(huì)越發(fā)凸顯。然而,對(duì)于來(lái)說(shuō),器件越小相當(dāng)于其他半導(dǎo)體的優(yōu)勢(shì)就越大。因?yàn)?,一些特殊制備的氧?A href="http://odinmetals.com/site/CN/Search.aspx?page=1&keywords=%e7%a1%85&column_id=ALL&station=%E5%85%A8%E9%83%A8" target="_blank">硅、氮化介面的表面性質(zhì)遠(yuǎn)遠(yuǎn)好于其他半導(dǎo)體,若對(duì)這一性質(zhì)利用得當(dāng)?shù)脑?huà)(約束載流子復(fù)合)基微型發(fā)光器件將扳回一城。”

  將為光電集成應(yīng)用帶來(lái)全新解決思路

  受限于幾近于無(wú)的發(fā)光能力,目前使用的 LED 以及半導(dǎo)體激光器多基于 III-V 族元素,這在許多依賴(lài)于的高度集成解決方案里(譬如基光子集成回路、主動(dòng)光電傳感器等)屬于無(wú)可奈何的 “妥協(xié)”。

  而把可單獨(dú)自調(diào)制的基微型發(fā)光器件陣列直接集成到傳統(tǒng)的數(shù)字 / 模擬 / 感光芯片上,不再需要額外 “粘貼” 任何 III-V 族半導(dǎo)體或者參雜稀土元素,不同材料帶來(lái)的問(wèn)題也就不再存在,這將為未來(lái)的光電集成應(yīng)用帶來(lái)全新的解決思路。

  其中一個(gè)重要應(yīng)用是光互連。目前微電子芯片計(jì)算架構(gòu)的速度瓶頸其實(shí)主要是芯片之間以及內(nèi)部基于電子的信息傳輸速度,而非時(shí)鐘頻率。受限于能耗和發(fā)熱等因素,現(xiàn)在使用金屬互連的通信帶寬(如 CPU 與內(nèi)存之間、GPU 與顯存之間)很難超過(guò) 1Tbps,學(xué)界和前沿業(yè)界認(rèn)為光互連(optical interconnect)將會(huì)取而代之,并帶來(lái)一場(chǎng)計(jì)算架構(gòu)的全新革命。目前,基于這一理念設(shè)計(jì)的高速光通訊模塊已經(jīng)在谷歌等大型數(shù)據(jù)中心得到應(yīng)用,Intel 等傳統(tǒng)半導(dǎo)體廠商在這一技術(shù)上也有布局。

  但目前的光互連、光計(jì)算解決方案仍采用獨(dú)立的 III-V 族半導(dǎo)體激光器,作為光源進(jìn)行外部調(diào)制。當(dāng)作為最理想的集成光源 —— 自調(diào)制微型基發(fā)光器件加入,將有可能改變這一格局。

  “設(shè)想一塊類(lèi)似于 CMOS 感光器件的大型基光源陣列,完全集成于模擬驅(qū)動(dòng)模塊和邏輯處理模塊,并且無(wú)需外部調(diào)制,這將使得光互連的通信帶寬或是光子計(jì)算的并行速度輕松提高成百數(shù)千倍,同時(shí)降低功耗并縮小芯片面積。這對(duì)將來(lái)的高性能計(jì)算架構(gòu)有很大意義。另一方面,與商用 CMOS 微電子制程的高度集成將使其有機(jī)會(huì)走入千家萬(wàn)戶(hù),而非永遠(yuǎn)停留在科研上”,當(dāng)然,薛今也表示,前景可觀,但要達(dá)到這一程度的系統(tǒng)集成還有很多工作要做。

  對(duì)此,薛今及其合作者也進(jìn)行了嘗試,他們將全新設(shè)計(jì)的 micro-LED 和另外開(kāi)發(fā)的單光子雪崩二極管以及其他微電子器件全部集成于單塊商用芯片,并首次概念性地演示了基于光纖傳輸?shù)娜?A href="http://odinmetals.com/site/CN/Search.aspx?page=1&keywords=%e7%a1%85&column_id=ALL&station=%E5%85%A8%E9%83%A8" target="_blank">硅基芯片到芯片的高速光通信。在初步驗(yàn)證中達(dá)到單個(gè)基 micro-LED 的調(diào)制解調(diào)速度達(dá)到了 250MHz,芯片間單信道光通信為 10MHz。薛今也強(qiáng)調(diào),這一速度仍受限于實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,而非器件本身的瓶頸。

圖|信息傳輸測(cè)試

  此外值得注意的一點(diǎn)是,這一基芯片間高速光互連的首次演示同樣是在目前業(yè)界成熟投產(chǎn)的微電子芯片制程(55 納米)上完成,這表明,他們的設(shè)計(jì)方案達(dá)到的效果并非苛刻實(shí)驗(yàn)條件下產(chǎn)生的效果,是離實(shí)際應(yīng)用更近的現(xiàn)實(shí)解決思路。

  也就是說(shuō),的發(fā)光能力提高后,COMS LED 的集成將不再需要額外制作的高昂成本,到那時(shí)光技術(shù)將可以用在更多方面。

  薛今舉例說(shuō)道,比如現(xiàn)在最新的 iPhone 里面只有價(jià)格最高的機(jī)型中采用了激光雷達(dá)技術(shù)(Lidar)。這就是因?yàn)槟壳凹す饫走_(dá)中光源陣列的發(fā)光元件是 III-V 族半導(dǎo)體砷化鎵,而其他驅(qū)動(dòng)芯片、感光陣列等都是,把不同材料封裝在一起的成本正是激光雷達(dá)成本高昂的原因。這也使得目前該模塊體積較大,而且受限于光源陣列的大小,精度也一般。

  而當(dāng)發(fā)光元件也是的時(shí)候,光源陣列、感光陣列、驅(qū)動(dòng)和邏輯處理直接集成在一起,便可以省去昂貴的封裝成本。更為重要的是,將可以在更小的模塊體積下達(dá)到更高的分辨率和精度。到那時(shí),不僅 iPhone 所有機(jī)型都可以用激光雷達(dá),甚至所有的智能家電都可以使用這一技術(shù)。

  在薛今的本次成果中,基發(fā)光的性能雖比以往有了長(zhǎng)足進(jìn)步,但尚不足以挑戰(zhàn)業(yè)已成熟的 III-V 族半導(dǎo)體。不過(guò),薛今及其合作者表示,他們已通過(guò)進(jìn)一步實(shí)驗(yàn)表明,未來(lái)微型化的基半導(dǎo)體發(fā)光器件將有可能達(dá)到甚至超過(guò)現(xiàn)有 III-V 族半導(dǎo)體器件在類(lèi)似條件下的性能。

  從興趣和不解出發(fā),探究阻礙發(fā)光的秘密

  說(shuō)到對(duì)在發(fā)光方向上的研究,薛今說(shuō) “這是很自然的事情”。

圖|薛今(來(lái)源:受訪者提供)

  他出生于江蘇常州,曾就讀于江蘇常州高級(jí)中學(xué)。高二時(shí)他獲得了新加坡政府獎(jiǎng)學(xué)金,并赴新完成了本科學(xué)業(yè)。

  2012 年,薛今獲得南洋理工大學(xué)電氣與電子工程學(xué)士學(xué)位,并取得新加坡最高的國(guó)家科學(xué)獎(jiǎng)學(xué)金,次年前往 MIT 電子工程與電腦科學(xué)系攻讀碩士和博士。今年春天即將畢業(yè)。

  從本科最開(kāi)始接觸光纖激光、到在 MIT 研究光電半導(dǎo)體器件,他的研究方向就是他的興趣所在。

  在 MIT 最初幾年,他提出了氮化鎵(GaN)半導(dǎo)體發(fā)光效率超過(guò) 100% 的可能性(即直接從空氣中吸熱發(fā)光),并嘗試為光電半導(dǎo)體器件構(gòu)建一個(gè)基于熱力學(xué)和統(tǒng)計(jì)力學(xué)的理論框架,希望從不同視角帶來(lái)全新的認(rèn)知。由此便延伸到的發(fā)光上,就像前文提到的,“(根據(jù)熱力學(xué)的可逆性)是一個(gè)很好的光的探測(cè)器,它既然可以很好地吸收光,為什么不能發(fā)出光?” 這一好奇開(kāi)始,薛今從基光電結(jié)合領(lǐng)域的研究出發(fā),一步一步探究阻礙發(fā)光背后的原因。

  現(xiàn)在,薛今已經(jīng)用他的方法解決了自己的疑問(wèn),也在全基集成發(fā)光上做好了規(guī)劃。

  接下來(lái),他將進(jìn)一步探索集成光學(xué)腔以實(shí)現(xiàn)微型基激光器的可能性,以及光子系統(tǒng)集成的驗(yàn)證,希望能夠發(fā)出更亮的光、達(dá)到更高的效率,實(shí)現(xiàn)芯片之間甚至內(nèi)部更高速的信息傳輸,應(yīng)用在實(shí)際中如面部識(shí)別將更快速、更精準(zhǔn)等。

       原創(chuàng): 趙欣

內(nèi)容來(lái)自:DeepTech深科技 deeptechchi
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