Multilane針對高速wafer ATE測試方案

  ICC訊 MultiLane總部位于黎巴嫩，創(chuàng)立于2006年。MultiLane是數(shù)據(jù)通信領域高速接口測試和數(shù)據(jù)中心測試方案的提供商。產(chǎn)品廣泛應用于半導體、數(shù)通等產(chǎn)品驗證測試。作為高速測試行業(yè)的領導者，MultiLane將其領先的誤碼儀和數(shù)字采樣示波器集成到Advantest 的 V93000 ATE 測試機臺，以支持更高速率芯片的測試，高度集成的BERT和DSO提供32個通道的測試能力，最高可達112 Gbps PAM4和35GHz輸入帶寬。利用這一獨特的集成方案，可以進行數(shù)字和模擬FT以及CP 測試,包括serdes測試、發(fā)射機、放大器、具有高速 I/O 的 ASIC 以及其他有源和無源高速設備。以太網(wǎng)、HDMI、USB 3/4、PCIe5/6、光纖通道等測試都可以支持。BERT 和示波器還可用于 IC 驗證、檢定和生產(chǎn)測試。

  其中針對TIA的CP和FT測試方案，目前已經(jīng)成功運用于全球領先的TIA芯片制造商產(chǎn)線測試，產(chǎn)線普及率遍及北美，新加坡，馬來西亞，臺灣。國內(nèi)也已經(jīng)有領先的TIA芯片廠商開始引入此方案進行小批量生產(chǎn)測試, ATE自動化測試方案，完美解決了TIA CP測試中探測的難點問題。

  Multilane ATE測試系統(tǒng)主要由Family Board, HSIO Card Cage, ML Instrument Cassettes ，DUT Loadboard 或Probe Card四個部分組成，F(xiàn)amily Board 兼容CTH, STH Test Head，并引出93000本身的測試資源。HSIO Card Cage讓Pogo Pin通過到達DUT， ML Instrument Cassettes 是高速BERT 或DSO 或AWG儀器，是這套系統(tǒng)的關鍵。DUT  Board根據(jù)是FT 或 CP的應用 在Docking方向及細節(jié)上稍有不同。Multilane ATE Solution 能夠分別對serdes Tx 或 Rx進行測試，快速定位問題。具有覆蓋范圍廣，測試時效高，穩(wěn)定性高等特點。軟件方面 ML Instrument 提供API接口，V93000 Smartest 可以對Instrument進行設置，讀取結果等操作。

  為更好地服務國內(nèi)客戶，2023年MultiLane Inc 與上海澤豐半導體科技有限公司簽署了《戰(zhàn)略合作框架協(xié)議》。雙方本著互惠互利、實現(xiàn)雙贏的目標，在平等自愿的前提下就高速ATE測試方案達成戰(zhàn)略合作。

  DSO 有多種內(nèi)建的 filters 如 Bessel-Thomson, CTLE, DFE, FFE等，并且可以De-embed, embed 探針及fixture PCB trace等的S參數(shù)。能夠對信號路徑的每個部分分別進行精準的Calibration控制。搭配澤豐性能優(yōu)異的Probe Card。是wafer級 characterization 及快速產(chǎn)測的理想方案。

  關于MultiLane：

  MultiLane是數(shù)據(jù)通信領域高速接口測試和數(shù)據(jù)中心測試方案的提供商。覆蓋到早期的10 G到前沿的800 G以太網(wǎng)，主要產(chǎn)品包括誤碼儀、任意波形發(fā)生器(AWG)、光/電口采樣示波器、時域反射計（TDR）、QSFP-DD, OSFP等其他各種封裝形式的主機、模塊一致性測試夾具、環(huán)回模塊、適配器與分析儀等。產(chǎn)品廣泛應用于半導體、DAC銅纜、AOC光纜、有源線纜、光模塊、和交換機產(chǎn)品驗證測試。我們的創(chuàng)新步伐緊跟行業(yè)快速變化的需求。

  同時為幫助行業(yè)客戶加速產(chǎn)品開發(fā)部署進程，Multilane也提供一致性測試服務，信號完整性設計服務等，另外Multilane的高速ATE 模組搭配ATE測試機臺，已廣泛應用于wafter級的全自動化測試，了解更多信息請訪問Multilane官網(wǎng) www.multilaneinc.com

  或咨詢中國區(qū)銷售經(jīng)理：林瑤  13621907413