昊衡科技-OLI用于光纖彎曲檢測(cè)

  ICC訊 今天小編想跟大家探討一下，關(guān)于光纖的一個(gè)小細(xì)節(jié)問(wèn)題：光纖是否可以彎曲?答案是可以的，但卻有一定的限制，不同的彎曲半徑、不同的光纖類型等，光纖彎曲特性的表征也會(huì)不一樣。光纖的傳播方式主要是全反射原理。光信號(hào)于光纖垂直端射入，在與光纖的軸心線重合時(shí)沿軸心線向前傳播，如果光纖的彎曲度過(guò)大，就會(huì)造成一部分的光信號(hào)無(wú)法通過(guò)而反射回去。昊衡科技推出的OLI光纖微裂紋檢測(cè)儀，可以用于檢測(cè)光纖彎曲特性。

圖1. OLI低成本光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)

      OLI是一款低成本高精度光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)。其原理基于光學(xué)相干檢測(cè)技術(shù)，利用白光的低相干性可實(shí)現(xiàn)光纖鏈路或光學(xué)器件的微損傷檢測(cè)。通過(guò)讀取最終干涉曲線的峰值大小，精確測(cè)量整個(gè)掃描范圍內(nèi)的回波損耗，進(jìn)而判斷此測(cè)量范圍內(nèi)鏈路的性能。以下是OLI檢測(cè)單模光纖，彎曲三種不同程度(彎曲半徑：2.5mm、3.5mm、5mm)光信號(hào)反射的回波強(qiáng)度。

圖2.光纖彎曲半徑2.5mm測(cè)試結(jié)果

圖3.光纖彎曲半徑3.5mm測(cè)試結(jié)果

圖4.光纖彎曲半徑5mm測(cè)試

      結(jié)果上述結(jié)果表征光纖彎曲會(huì)影響光信號(hào)的回波強(qiáng)度。OLI光纖微裂紋檢測(cè)儀可用于該回波強(qiáng)度測(cè)試，該儀器的高精度探測(cè)能力可以實(shí)現(xiàn)對(duì)于微小裂紋的高精度檢測(cè)和定位，為光學(xué)器件的生產(chǎn)和檢測(cè)提供了有效保障。