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昊衡科技 | OLI測試范圍升級至-100dB

摘要:目前,昊衡科技已完成新一代OLI儀器開發(fā),參數(shù)性能進一步提升,儀器測量長度已升級為1m,回?fù)p測量范圍可低至-100dB,歡迎廣大行業(yè)客戶來電咨詢測試。

  ICC訊 本文將介紹昊衡科技推出的OLI 光纖微裂紋檢測儀。首先理解下OLI的原理,OLI其原理基于白光干涉,可以簡單理解為,設(shè)備出光光源為白光,該光源分為兩路,一路在設(shè)備內(nèi)部作為參考光,一路進入待測器件作為信號光,參考光和信號光在相同光程的地方會發(fā)生干涉,且誤差在百微米內(nèi),這也意味著OLI有著超高的定位精度。OLI讀取最終干涉曲線的峰值大小,精確測量整個掃描范圍內(nèi)的回波損耗,進而判斷此測量范圍內(nèi)鏈路的性能。

  小編想跟大家聊的重點是OLI測試范圍升級至-100dB,意味著OLI能探測到光鏈路中任何高于-100dB的光學(xué)信號,且能對該位置進行精確定位。小編給大家舉幾個例子,直觀感受-100dB的概念。工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,APC接頭回?fù)p值≥-60dB,PC、UPC接頭回?fù)p值≥-50dB;實際測試中APC接頭法蘭對接回?fù)p值≥-70dB;光纖和芯片耦合完好回?fù)p值≥-70dB。

  圖1. 實測示意圖

  以下是OLI在-100dB測試范圍下檢測多通道FA端面,OLI外接8通道光開關(guān),開啟多通道測試功能。

圖2. 多通道FA

圖3.8通道測試結(jié)果

  OLI應(yīng)用場景

  光纖微裂紋檢測

  光器件、光模塊測量

  硅光芯片測量

  PLC波導(dǎo)瑕疵損耗檢測

    FA光纖陣列鏈路性能檢測

  目前,昊衡科技已完成新一代OLI儀器開發(fā),參數(shù)性能進一步提升,儀器測量長度已升級為1m,回?fù)p測量范圍可低至-100dB,歡迎廣大行業(yè)客戶來電咨詢測試。

  昊衡科技

  Megasense

  一家集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售于一體的高科技公司,專業(yè)從事工業(yè)級自校準(zhǔn)光學(xué)測量與傳感技術(shù)開發(fā),也是一家實現(xiàn)OFDR技術(shù)商用化的公司。目前,昊衡科技已推出多款高精度高分辨率產(chǎn)品,主要應(yīng)用于光學(xué)鏈路診斷、光學(xué)多參數(shù)測量、高精度分布式光纖溫度和應(yīng)變傳感測試。已與全球多個國家和地區(qū)企業(yè)建立良好的合作關(guān)系,并取得諸多成果。電話:027-87002165官網(wǎng):http://www.mega-sense.com/公眾號:“昊衡科技”或“大話光纖傳感”

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