【CIOE2017】維勘科技：優(yōu)秀3D干涉儀幫助企業(yè)提高品質

　　Iccsz訊（編輯：Aiur） 設備儀器是通訊領域不可或缺的部分，在CIOE2017上，數(shù)百家設備儀器商展出自己的優(yōu)勢產品。9月7日，訊石來到杭州維勘科技股份有限公司（展位：6號館6065、6066、6067），了解這家無源光器件檢測儀器商在本次CIOE上重點展出的產品。

　　維勘科技總經理于宏波先生和銷售經理汪彬彬女士接受訊石采訪，于總表示維勘科技的創(chuàng)始人，浙江大學教授汪凱巍博士看到了光通訊市場的需求旺盛以及國外設備的壟斷，決定投身于光通訊設備儀器領域，經過潛心研究成功推出國產3D干涉儀、自動分揀機等設備。

　　眾所周知，設備儀器是需要不斷地進行研發(fā)投入，維勘科技是杭州市“青藍計劃”和高薪技術企業(yè)，除了自身花費大量資金用于設備研發(fā)，杭州政府也給公司極大的支持。得益于多方面有利因素，維勘科技自主設計研發(fā)的3D干涉儀成為國內首屈一指的無源器件檢測設備。

WKFI-2SX 3D干涉儀

WFI-M 3D干涉儀

　　“3D干涉儀從技術層面來說，國產設備與國外同步。目前中國是全球最大光通訊市場，給了國產設備發(fā)揮的機會，光纖跳線產量極大，而光纖端面指標要求很高，維勘致力于幫助光器件生產企業(yè)更好地發(fā)現(xiàn)生產中的問題，提高出貨品質”，于總如此說道。維勘在今年CIOE上重點展示其最新研發(fā)的光纖端面3D干涉儀。于總向訊石介紹：“傳統(tǒng)上，3D干涉儀測量范圍在-150~150nm，使得超低或超高的纖高往往被誤判為良品，但超高和超低又是當前光器件生產普遍現(xiàn)象。維勘通過獨創(chuàng)的頻率合成技術，將測量范圍擴大至7000nm，測量速度僅為0.7秒，還原更真實的纖高結果，更嚴格地檢測出次品。”

　　維勘科技在3D干涉儀研發(fā)上開創(chuàng)出自己的技術，產品成功獲得了中國計量科學研究院出具的檢測報告(證書編號：CDjc2017-519)

　　維勘科技具備先進成熟的技術，同時趕上了市場風口，2017年包括華為中興在內等眾多企業(yè)要求下游供應商在生產光纖連接器時進行端面3D全檢，帶動檢測設備市場的旺盛。光纖端面3D干涉儀一種測量精度高、速度快、非接觸的檢測設備，被越來越多的光器件廠家重視，成為檢驗光纖連接器生產品質的重要手段。

陶瓷插芯內徑自動分揀機

　　除了3D干涉儀，維勘科技在陶瓷插芯檢測方面也有優(yōu)秀產品上市。隨著無源器件技術門檻降低，品質和規(guī)模是競爭力的關鍵，而關鍵中的關鍵是實行自動化生產。維勘推出的WKID系列陶瓷插芯內徑自動分揀機可以幫助企業(yè)降低用工成本，自動化效率幫助企業(yè)提升陶瓷插芯檢測速度與精度。

       CIOE2017維勘科技展位：6號館6065、6066、6067，歡迎業(yè)界同仁咨詢交流。

維勘團隊與訊石合影（左四于總，左三汪經理）

　　杭州維勘科技于2012年由著名海歸博士汪凱巍教授帶領團隊成立，2013年成功推出產品，經過數(shù)年發(fā)展，維勘科技產品通過了國家權威機構認證并獲得業(yè)內客戶的高度認可。維勘科技制造出的自動光纖端面干涉儀、手動光纖端面干涉儀、單多芯一體光纖端面干涉儀、光纖陶瓷插芯同心度檢測儀、光纖陶瓷插芯內徑自動分揀機等多款精密檢測設備獲得市場客戶認可，成功積累出優(yōu)秀的市場口碑，現(xiàn)在還有多項光學項目在立項研發(fā)中，訊石期待維勘的精密檢測設備未來更加精確強大，產品更加多元化。