在線研討會(huì) | 硅光芯片及器件on-wafer測(cè)試技術(shù) 歡迎預(yù)約

  ICC訊  7月4日，2pm-4pm，ICC訊石聯(lián)合是德科技舉辦硅光芯片及器件on-wafer測(cè)試技術(shù)研討會(huì)。會(huì)議邀請(qǐng)到了是德科技聯(lián)合FormFactor的高級(jí)光學(xué)工程師袁博士將對(duì)硅光器件發(fā)展趨勢(shì)及晶圓/芯片級(jí)測(cè)試方案做相關(guān)介紹并與嘉賓互動(dòng)。 如今，硅光技術(shù)在高速光互聯(lián)的數(shù)據(jù)中心場(chǎng)景快速落地，前所未有的高速光電轉(zhuǎn)換與集成需求對(duì)測(cè)試技術(shù)提出了更高要求，如何看待硅光芯片及器件on-wafer發(fā)展趨勢(shì)，確保800G/1.6T甚至更高速率數(shù)據(jù)傳輸?shù)臏?zhǔn)確性與可靠性。

歡迎識(shí)別二維碼預(yù)約參加!與業(yè)界專家并肩，共同解鎖硅光技術(shù)的測(cè)試新紀(jì)元!

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  光子集成可提供更高的密度、更好的性能和更低的成本，從而為多太比特以太網(wǎng)的切換和通信、量子計(jì)算、激光雷達(dá)和生物傳感應(yīng)用提供支持。晶圓級(jí)進(jìn)行快速、全面的高品質(zhì)參數(shù)化測(cè)試，生成大量關(guān)于器件性能的數(shù)據(jù)，從而用于設(shè)計(jì)驗(yàn)證，減少進(jìn)行大批量制造時(shí)選擇合格裸片所花的時(shí)間。

  會(huì)議日程

  · 硅光芯片及器件on-wafer發(fā)展趨勢(shì)及測(cè)試解決方案更新

  · 超越電子：硅光子器件的晶圓和芯片級(jí)創(chuàng)新測(cè)試方案

  · 答疑與抽獎(jiǎng)

  演講嘉賓

袁泉博士 FormFactor的高級(jí)光學(xué)工程師

  袁博士畢業(yè)于田納西大學(xué)諾克斯維爾分校電氣工程與計(jì)算機(jī)科學(xué)系，獲得博士學(xué)位。畢業(yè)后，他在普渡大學(xué)擔(dān)任研究助理教授，后加入FormFactor。在FormFactor，袁博士主要負(fù)責(zé)硅光子學(xué)相關(guān)產(chǎn)品的研究和開發(fā)，特別是作為FormFactor Pharos技術(shù)的技術(shù)負(fù)責(zé)人。他的研究興趣包括硅光子學(xué)、MEMS制造和光電系統(tǒng)集成。袁博士在各個(gè)領(lǐng)域發(fā)表了大量論文，并持有多項(xiàng)專利。

朱振華 是德科技光通信資深解決方案工程師

  畢業(yè)于華中科技大學(xué)(本科)以及清華大學(xué)(碩士)。于2011年加入是德科技公司，作為應(yīng)用工程師工作至今。主要負(fù)責(zé)為各大光器件及光網(wǎng)絡(luò)設(shè)備企業(yè)、高校科研院所提供光通信測(cè)試方面的技術(shù)支持和服務(wù)，對(duì)光通信領(lǐng)域內(nèi)的核心器件和網(wǎng)絡(luò)、相干光通信、高速光電接口等的測(cè)試方法原理有深入了解和豐富的實(shí)測(cè)經(jīng)驗(yàn)。

直播抽獎(jiǎng)精美禮品，趕快報(bào)名吧~

*現(xiàn)場(chǎng)參會(huì)并提交問卷有機(jī)會(huì)獲得是德科技公司提供的抽獎(jiǎng)禮品。照片僅供參考，禮品以實(shí)物為準(zhǔn)。