威誼聯手杰普特推出偏振測試系統

 
 　　4/3/2006，領先的陶瓷插芯和光纖跳線制造商深圳威誼光通技術有限公司宣布，他們在新品開發(fā)上又有了新的突破。威誼光通與杰普特科技，在最基礎的數學算法基礎上，聯手研制出光纖用PDL測試儀，PMD測試儀，偏振參數分析儀等一系列具有自主知識產權的新產品。
    偏振相關損耗測量儀（PDLM）用于測量光纖系統和光纖器件的偏振相關損耗。本產品集成了5種方法對偏振相關損耗進行測量，用戶可以在軟件界面中進行選擇，也可以選擇自動模式讓測量系統自動比較和選擇優(yōu)化的測量方法。這些測量方法包括了隨機輸入偏振態(tài)方法，基于瓊斯和密勒矩陣分析的四偏振態(tài)輸入、三偏振態(tài)輸入和兩偏振態(tài)輸入方法，以及基于偏振度測量的準單色非偏振光輸入方法。這些方法各有不同的優(yōu)點和缺點，綜合應用可以實現高速、高精度的測量。
    偏振模色散測量儀(PMDM)用于測量光纖系統和光纖器件的偏振模色散。本產品集成了8種方法對偏振模色散（矢量）進行測量，用戶可以在軟件界面中進行選擇，也可以選擇自動模式讓測量系統自動比較和選擇優(yōu)化的測量方法。這些測量方法包括了適用于待測系統沒有偏振相關損耗\\增益的情況的邦加球法、C.D.Poole方法、密勒矩陣法、虛擬密勒矩陣法；以及適用于待測系統有偏振相關損耗\\增益的情況的瓊斯矩陣本征分析法、擴展的邦加球法、復平面法、擴展密勒矩陣法。這些方法各有不同的優(yōu)點和缺點，綜合應用可以實現高速、高精度的測量，提供一階和二階偏振模色散矢量的信息。
　　偏振參數分析儀(PPA)用于測量光纖系統和光纖器件的偏振特性，包括消偏振特性、雙折射特性、偏振相關損耗和增益以及這些參數的隨光頻的變化，也可用于進行對系統的偏振模色散特性進行最一般情況下的分析。PPA通過對密勒矩陣的測量和分解實現上述功能。系統自動選擇最優(yōu)的測量方法和參數進行分析。
    這一系列的新產品將于6月份面向市場。這將打破國外公司 對該類產品的壟斷局面，為我國在更高端的產品開發(fā)領域作出貢獻