聯(lián)訊儀器 | 入圍“2023蘇州民營企業(yè)創(chuàng)新100強”

  ICC訊 日前，蘇州舉行優(yōu)化營商環(huán)境暨民營經(jīng)濟(jì)高質(zhì)量發(fā)展大會，大力營造全社會支持、尊重企業(yè)家的濃厚氛圍，以一流營商環(huán)境助力民營經(jīng)濟(jì)高質(zhì)量發(fā)展。大會現(xiàn)場表彰了2021—2022年度蘇州市優(yōu)秀民營企業(yè)家和民營經(jīng)濟(jì)工作貢獻(xiàn)突出單位，授牌了2023“蘇州民營企業(yè)創(chuàng)新100強”“蘇州民營企業(yè)100強”企業(yè)名單，聯(lián)訊儀器喜獲殊榮!

800G 光模塊市場需求快速增長

  隨著人工智能/大語言模型的飛速發(fā)展，AI模型參數(shù)實現(xiàn)了百倍提升，訓(xùn)練模型所需的算力和數(shù)據(jù)需求也迎來了爆發(fā)式的增長，從而為光模塊需求帶來巨大增量，據(jù)Lightcounting預(yù)測，光模塊的市場規(guī)模在未來 5 年將以CAGR14%保持增長，2026 年預(yù)計達(dá)到176億美元，其中數(shù)通是最大的細(xì)分市場. 數(shù)據(jù)中心交換芯片吞吐量持續(xù)提升，數(shù)據(jù)中心內(nèi)部互聯(lián)的光收發(fā)模塊需求從 25/100G 快速向 200/400G/800 提升，更高速率的800G/1.6T光模塊正加速進(jìn)入市場

  聯(lián)訊儀器800G 光模塊測試解決方案

  800G誤碼儀聯(lián)訊儀器PBT8812高速串行誤碼儀，支持24.33~56.25 Gbaud符號速率，完全覆蓋 200/400/800Gbps 光模塊測試場景

  支持真實FEC產(chǎn)生和測試分析

  各通道可獨立配置為NRZ或PAM4信號制式

  支持接收端電眼直方圖及信噪比測量

  支持 3 階/7 階模式下，發(fā)射端的預(yù)加重及去加重調(diào)制

PBT8812高速串行誤碼儀

  56G 波特率光信號時鐘恢復(fù)聯(lián)訊儀器CR6256時鐘恢復(fù)單元，支持24.8832~32.5 Gbaud/49.7664 ~56Gbaud速率下的NRZ/PAM4信號時鐘提取，廣泛應(yīng)用于單波53 Gbaud光模塊及接口提取時鐘

  單多模一體集成，可支持單模和多模光信號時鐘恢復(fù)

  高靈敏度

  -12dBm @ 53.125 Gbaud PAM4

  -14dBm @ 26.5625 Gbaud PAM4

  低抖動，恢復(fù)時鐘隨機(jī)抖動典型值 290fs

  CR6256時鐘恢復(fù)單元

  50GHz 采樣示波器聯(lián)訊儀器 DCA6201 采樣示波器，支持NRZ/PAM4信號測試，覆蓋20Gbaud~53Gbaud之間多種速率，可以同時支持最 多4通道眼圖測試

  多種 Filter 可選,可擴(kuò)展范圍 12.44~56Gbaud

  支持 53G PAM4(SIRC) 眼圖測試

  支持 50G PON OLT TDEC(SIRC) 測試

DCA6201 采樣示波器

聯(lián)訊儀器800G 光模塊測試框圖

聯(lián)訊儀器800G 光模塊集成化測試平臺

  除傳統(tǒng)分立測試平臺外，聯(lián)訊儀器還提供高集成化測試解決方案MTP8102， MTP8102集誤碼分析儀(BERT)，MCB測試板，TEC溫度循環(huán)控制系統(tǒng)為一體，實現(xiàn)不同溫度環(huán)境下800G高速光模塊的誤碼測試，如800G OSFP，800G QDD光模塊等;集成式MCB測試卡，實現(xiàn)靈活快捷的DUT MCB更換，集成式誤碼儀平臺，省去額外的線纜連接，進(jìn)一步減少測試臺空間和成本

MTP8102 800G 光模塊集成化測試系統(tǒng)

  可更換DUT MCB設(shè)計

  集成TEC 溫度控制系統(tǒng)

  同時支持2個800G QSFP-DD/OSFP 模塊并行測試

  關(guān)于聯(lián)訊

  聯(lián)訊儀器是國內(nèi)高端測試儀器和設(shè)備提供商。主要專注于光網(wǎng)絡(luò)測試、光芯片測試、電性能測試和功率芯片測試?？梢蕴峁┌ǜ咚僬`碼儀、網(wǎng)絡(luò)測試儀、寬帶采樣示波器、高精度波長計、光譜儀，通用數(shù)字源表等高端測試儀器，以及高速光電混合ATE， 激光器芯片老化機(jī)，激光器芯片測試機(jī)，硅光晶圓測試機(jī)，功率芯片測試機(jī)，晶圓老化機(jī)等高端測試設(shè)備。

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