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LTE測(cè)試技術(shù)挑戰(zhàn),共創(chuàng)4G時(shí)代美好未來(lái)

摘要:2013年12月27日下午,第九屆IMCA 國(guó)際儀器儀表與測(cè)控自動(dòng)化高峰論壇暨“2013 TD-LTE測(cè)量測(cè)試核心技術(shù)大會(huì)”,在深圳馬可孛羅好日子酒店舉辦并圓滿成功!迎接4G時(shí)代LET測(cè)量測(cè)試帶來(lái)的變革和挑戰(zhàn),LTE將為測(cè)量測(cè)試產(chǎn)業(yè)鏈帶來(lái)前所未有的發(fā)展機(jī)遇。此屆測(cè)量測(cè)試業(yè)界翹楚聚焦的2013 TD-LTE測(cè)量測(cè)試核心技術(shù)大會(huì),以“4G時(shí)代,共創(chuàng)美好未來(lái)”為主題成功打造了一個(gè)高水準(zhǔn)的高峰論壇。

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文章標(biāo)題:LTE測(cè)試技術(shù)挑戰(zhàn),共創(chuàng)4G時(shí)代美好未來(lái)
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