聯(lián)訊發(fā)布rBT3250-50G突發(fā)誤碼分析儀，支持突發(fā)和連續(xù)模式信號輸出及誤碼測試

50G突發(fā)誤碼分析儀

rBT3250是專門針對下一代25G/50G無源光網(wǎng)絡(luò)(PON)應(yīng)用的光線路終端(OLT)測試新型突發(fā)誤碼分析儀，用于評估突發(fā)模式下的25G及50G OLT接收機(jī)性能。

rBT3250提供2個獨立的突發(fā)碼型發(fā)生器和誤碼探測器通道，支持連續(xù)模式或突發(fā)模式誤碼分析，具有兩路突發(fā)時分碼型序列產(chǎn)生和誤碼分析能力，碼型時序靈活可調(diào)。并針對器件測試需求，給相應(yīng)測試通道提供同步的激光器使能、復(fù)位信號等低速控制通道。產(chǎn)品內(nèi)置時鐘恢復(fù)，可以自動測距，輕松應(yīng)對長纖測試。

50GPON模塊測試

（a）

 

(b)

如圖a所示，搭建50G PON 突發(fā)測試環(huán)境，主要由兩個ONU模塊和一個OLT模塊組成。突發(fā)誤碼測試儀兩個突發(fā)通道PPG時分交替發(fā)送具備突發(fā)幀結(jié)構(gòu)的數(shù)據(jù)（preamble & Data）及激光器使能信號（enable），使兩個ONU模塊交替發(fā)送突發(fā)數(shù)據(jù)，分別經(jīng)過衰減器，模擬不同長度光纖上的功率衰減，經(jīng)過分光路器合成一路光，接入OLT模塊。突發(fā)誤碼測試儀ED向OLT發(fā)送reset信號并接收突發(fā)數(shù)據(jù)，進(jìn)行兩路突發(fā)誤碼比較。

 如圖b所示，在雙突發(fā)測試過程中，突發(fā)誤碼測試儀通過配置兩個突發(fā)通道的突發(fā)幀長度（preamble & Data），以及衰減器的衰減量，可以充分檢測OLT模塊在接收不同光功率，不同突發(fā)數(shù)據(jù)長度時的性能。 

產(chǎn)品優(yōu)勢

01，支持突發(fā)和連續(xù)模式信號輸出及誤碼測試：

支持2路突發(fā)時序可配置的碼型發(fā)生器通道和2路突發(fā)誤碼測試通道

02，突發(fā)模式支持速率：

24.8832Gbps、25.78125Gbps、49.7664Gbps、51.5625Gbps

03，支持2路同步的ONU激光器使能控制通道誤碼測試通道：

控制電平是LVTTL 3.3V不需外接電平轉(zhuǎn)換。

04，支持2路雙復(fù)位控制通道：

復(fù)位位置可調(diào)，復(fù)位寬度可調(diào)

主要應(yīng)用

01，50G PON OLT模塊研發(fā)及生產(chǎn)測試

02，突發(fā)線性TIA芯片測試：

需要驗證突發(fā)信號情況下TIA(跨阻放大器)的器件的工作狀態(tài)

03，對碼型時序有特殊要求的一些場合

04，多通道信號輸出,多路信號碼型同步、時延同步

05，SDI碼型或者成幀信號產(chǎn)生及誤碼探測

技術(shù)指標(biāo)

碼型發(fā)生指標(biāo)	輸出	差分, 交流耦合，100?±10%
	輸出幅度	差分，100-600mVp-p
	輸出通道	突發(fā)通道（50Gbps NRZ）
		連續(xù)通道（50Gbps NRZ/PAM4)
	支持碼型	支持：PRBS7，15，23，31，SSPR，自定義碼型及CID碼型
	上升時間 （20%~80%）	<12ps
	抖動（RMS）	<0.9ps
	碼型序列	支持前導(dǎo)碼、保護(hù)時間及負(fù)荷時序信號的產(chǎn)生及編輯
	CID 碼型	長度64-128 bits 可調(diào)
	時鐘輸出	1/2、1/4、1/8、1/16分頻時鐘輸出
	連接器類型	2.4mm  female,50Ω
	RSSI 觸發(fā)輸出	支持RSSI觸發(fā)信號脈沖寬度、重復(fù)周期、位置可調(diào)
誤碼探測器指標(biāo)	輸入類型	差分, 交流耦合，100?±10%
	幅度	100~800mVpp
	靈敏度	＞100mV
	時鐘模式	內(nèi)置時鐘恢復(fù)
	連接器	2.4mm female,50Ω

關(guān)于聯(lián)訊

聯(lián)訊儀器是國內(nèi)高端測試儀器和設(shè)備供應(yīng)商。主要專注于高速通信、光芯片、電芯片和第三代半導(dǎo)體功率芯片等測試儀表和設(shè)備的研發(fā)制造。公司可以提供包括寬帶采樣示波器、高速誤碼儀、網(wǎng)絡(luò)流量測試儀、高精度快速波長計、精密數(shù)字源表、低泄漏矩陣開關(guān)等高端測試儀器，以及高速光電混合ATE、半導(dǎo)體激光器CoC老化、裸Die芯片測試、硅光晶圓測試、SiC晶圓老化、SiC裸Die 功率芯片KGD測試分選、WAT晶圓允收測試系統(tǒng)、WLR/PLR可靠性測試系統(tǒng)等高端測試設(shè)備。

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